Государственная публичная научно-техническая библиотека России

• 

Подробности

Просмотров: 14362

 

 

"Окно в микромир"

 

 

     "Микроскоп является одним из наиболее важных изобретений человечества, который позволил углубиться в изучение совершенно нового, скрытого от невооруженного человеческого глаза окружающего мира" – А.Ф. Иоффе.

 

 

Сколько существует человечество, столько же ученые, естествоиспытатели и философы пытаются понять, каков же на самом деле наблюдаемый нами мир, что же на самом деле нас окружает. Всегда была необходимость увидеть те вещи и предметы, которые, по малости своей, ускользали от человеческого глаза. Увидеть скрытое, обнаружить невидимое, понять, что кроется внутри вещества или материи – человечество проникло в микромир, чтобы сделать совершенный мир привычнее.

Уже больше тысячи лет назад люди научились мастерить простейшие оптические приборы – увеличительные стекла. Однако только в начале 17 века гениальный Галилей установил в одну трубку не одно, а сразу два стекла – и получился первый, почти настоящий, микроскоп, с объективом и окуляром. И люди тогда поняли, что, кроме привычного, видимого мира, существует и скрытый от нас микромир.

Точный изобретатель микроскопа неизвестен.

Увеличение первого прибора Йансена составляло от 3 до 10 крат. Но это был настоящий прорыв в области микроскопии! Микроскоп А. Левенгука давал увеличение в 300 раз, но трудно сказать, во сколько раз он ускорил прогресс науки. "С величайшим изумлением я увидел в капле великое множество зверюшек, оживленно двигающихся во всех направлениях, как щука в воде. Самое мелкое из этих крошечных животных в тысячу раз меньше глаза взрослой вши" - А. Левенгук. Он увидел впервые кровеносные тельца, движение крови в капиллярных сосудах, открыл инфузории, впервые погрузился в мир микроскопических одноклеточных водорослей, где лежит граница между животным и растением, он видел даже бактерии. Человечеству открывался новый мир живых существ, более разнообразный и бесконечно более оригинальный, чем видимый мир.

В 1846 г. немецкий механик Карл Цейсе открыл мастерскую и приступил к изготовлению микроскопов. С тех самых пор и до наших дней микроскопическая техника постоянно изменяется и совершенствуется.

Сейчас уже и представить себе трудно современные высокие технологии без использования микроскопа. За свою почти 400-летнюю историю развития он стал, наверное, одним из самых массовых оптических приборов.

Однако даже при использовании высококачественной оптики разрешающая способность светового микроскопа имеет ограничение, обусловленное самой природой света.

Попытка заменить световые волны электронами завершилась успехом в середине XX в. - был изобретен электронный микроскоп, который давал увеличение в 7-12 000 раз.

"Электронный микроскоп, возможно, сделается скоро таким же обычным прибором, как световой микроскоп, и трудно сейчас представить, сколь интересные результаты могут быть получены при помощи этого прибора" - предполагал Д. Д. Галанин и не ошибся в своих предсказаниях. "Сейчас электронный микроскоп — вполне обычный научный прибор в арсенале физиков, химиков, биологов, благодаря которому можно увидеть отдельные молекулы, и даже атомы. Более того, электронный микроскоп стал важнейшим инструментом нанотехнологий"- ак. А.Ф. Иоффе.

Современные технологии невозможны без точнейшего исследовательского оборудования, позволяющего проникать внутрь структуры вещества и «видеть» отдельные атомы. Один из мощнейших инструментов подобного рода появился в 1980-е годы: именно тогда Г. Биннигом и Г. Рореру (Нобелевская премия по физике 1986г.) был создан сканирующий туннельный микроскоп, позволивший визуализировать атомы на поверхности тел. В мире произошла настоящая революция с появлением методов визуализации атомов. Зондовый микроскоп – это нанотехнологический комплекс, состоящий из нескольких микроприборов и вспомогательного оборудования. До его появления еще никому не удавалось разглядывать поверхность с такой неслыханной детальностью – атом за атомом.

В конце 1986 года Г. Бинниг сконструировал прибор нового поколения - атомный силовой микроскоп, и сегодня он представляет огромный интерес для исследователей.

Сканирующая зондовая микроскопия позволяет заглянуть в мир молекулярной биологии, микробиологии и выработать практические рекомендации для молекулярной медицины. Природа создает основные строительные единицы – нуклеиновые кислоты, белки, полисахариды и другие наноструктуры – с точностью, пока недостижимой для человека, но многое становится доспупным благодаря сканирующей зондовой микроскопии.

Наука не стоит на месте, техническая мысль достигла невероятных высот, создаются разные материалы (фотонные кристаллы, наноструктуры, квантовые точки). Для исследования их и их свойств необходимы новые решения.

У каждого микроскопа свое предназначение и свои возможности. Каждый вид микроскопии дает свою информацию, которую не дает другой. Существуют оптические, электронные, сканирующие зондовые, рентгеновские, люминесцентные и поляризационные микроскопы, универсальные микроскопы-спектрофотометры, микроскопы сравнения...

Сканирующие электронные микроскопы способны фокусировать луч электронов против света и получить картинку даже самых маленьких структур в трёх измерениях. Самые мощные образцы способны отличать объекты размером 0,05 нм. Д. Истем полагает, что можно достигнуть результата вчетверо лучше – до 0,01 нм. "Этот планируемый микроскоп так мал, что соответствует размеру кончика пальца и вчетверо мощнее тех микроскопов, которые существуют на сегодня".

 Для того чтобы увидеть во всех деталях поверхность абсолютно непрозрачных материалов, используется технология дифференциальной интерференционной контрастной микроскопии.   Комбинация флюоресценции и конфокальных систем позволила проводить 3D-визуализацию клеток и тканей. Такие ключевые достижения, как разработка лазерной сканирующей конфокальной микроскопии и спиннинг-диск конфокальной микроскопии, сделали оптический микроскоп одним из мощнейших и универсальных инструментов для решения задач современной клеточной биологии. Структура молекулы ДНК может быть определена с помощью сканирующего туннельного микроскопа - одного из основных инструментов нанотехнологов, доказали американские ученые, "сфотографировав" цепочку ДНК человека. Успехи сканирующей туннельной микроскопии связаны с разработкой и развитием новых методик, позволяющих углубленно изучать свойства отдельных атомов и молекул, а также с улучшением пространственного разрешения. И в этой области российские ученые оказались среди лидеров. Совсем недавно исследователи из лаборатории спектроскопии поверхности полупроводников Института физики твердого тела РАН (ИФТТ РАН) «пробили путь» уже внутрь атома: они предложили метод подготовки вольфрамовых зондов для сканирующей туннельной микроскопии пикометрового (0,001 нм) разрешения, позволяющих получать изображения отдельных орбиталей электронов.

Российские нанобиотехнологи, соединив несколько известных методов микроскопии, сконструировали прибор, позволяющий исследовать трехмерную структуру объектов на наноразмерном уровне и их оптические свойства. Японские ученые создали первый в мире квантовый микроскоп, который для получения более высокой разрешающей способности использует одно из самых загадочных явлений квантового мира, явление квантовой запутанности фотонов света.

Физики из Университета Шеффилда разработали метод трансмисионной микроскопии, который позволит получать изображения, разрешение которых ограничено только длиной волны электрона. Авторы назвали такой вид микроскопии электронной птихографией.

В США разработан микроскоп, который позволит биологам изучать живые организмы на масштабах отдельных молекул.

"Эта область исследований очень сильно зависит от техники. Если хочешь сделать открытие, изобрети сначала новое оборудование. Этот микроскоп должен дать толчок биомедицинским исследованиям, разработке лекарств, диагностике рака и созданию биочувствительного оборудования" - С. Сивасанкара.

А. Франк заявляет о возможности создания нейтронного микроскопа. "Существуют две принципиальные проблемы, которые стоят на пути строительства нейтронного микроскопа: проблема отклонения нейтронных волн под действием гравитации и отсутствие сильных источников УХН. Никто в мире всерьез сейчас этим не занимается, поскольку вслед за первыми успехами в области нейтронной оптики, пришло разочарование. Ну а мы сейчас строим новый прибор», - сказал А. Франк.

Биология, физика, химия — все эти области науки порой требуют заглянуть в саму суть вещей, которую наш глаз или же простое увеличительное стекло рассмотреть не могут. Инструменты наноаналитики - оптические, электронные или зондовые микроскопы открывают новые возможности в наблюдении живой природы на уровне молекул. Они используются во всех областях науки, открывая тайны малого – позволяют создавать большое. Человек создал микроскоп чтобы познать микромир: от насекомого до бактерии, от поверхности материи до ее строения на атомном уровне. Глядя на бесцветную прозрачную каплю воды, трудно себе представить какой загадочный мир откроется, если поместить эту каплю под микроскоп. Мир не похожий на мир людей, однако, живущий вместе с нами, и внутри нас. И чем глубже мы проникаем в тайны вселенной, тем сложнее становиться микроскоп, инструмент, помогающий совершать открытия и совершенствовать будущее.

 

Библиографический список литературы к выставке

«Окно в микромир».

 

1.Микроскоп – инструмент микро- и наноаналитики2.Исследования методами микроскопии

 

1.Микроскоп – инструмент микро- и наноаналитики

 

1.Ж/1016

Кульчицкий, Н. К.

            Учение о микроскопе и техника микроскопического исследования [Текст] / Н. К. Кульчицкий. - 4-е испр. и доп. изд. - Харьков : [б. и.], 1909. - VIII, 270 с. : ил. - Сведения доступны также по Интернету: . - Указ.: с. 264-270

 

2.Д10-15/21597

Тимченко, Е. В.

            Цифровая оптическая микроскопия [Текст] : учеб. пособие / Е. В. Тимченко, П. Е. Тимченко ; Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева. - Самара : СГАУ, 2015. - 104 с. : ил. - Библиогр.: с. 103-104 (18 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-7883-1003-9

 

3.Д10-15/21949

Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (19 ; 2015 ; Черноголовка).

            XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел и 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов". РЭМ -2015 [Текст] : 1-4 июня 2015 г., Черноголовка : тез. докл. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2015. - 547 с. : ил. - 65 экз. - ISBN 978-5-89589-082-0

 

4.М/69408/4

Бенда А. Ф.

            Материалы нанотехнологий в полиграфии [Текст] : учеб. пособие для студентов, обучающихся по направлениям: 29.03.03 - "Технология полигр. и упаковоч. пр-ва"; 22.03 01 - "Материаловедение и технологии материалов"; 44.03.04 - "Проф. обучение" (по отраслям) / А. Ф. Бенда, П. Ф. Поташников ; Моск. гос. ун-т печати им. И. Федорова. - М. : МГУП им. И. Федорова, 20 -     .

            Ч. 4 : Сканирующая зондовая микроскопия и другие методы диагностики запечатываемых материалов на микро- и наноуровне. - 2015. - 135 с. : ил. - Библиогр.: с. 134-135 (17 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-8122-1316-9

 

5.Н/7868/ИФВЭ 2015-12

Максимов, А. В.

            О возможности создания протонного микроскопа на базе радиографического комплекса на синхротроне У-70 [Текст] / А. В. Максимов, Ю. С. Федотов. - Протвино : ИФВЭ, 2015. - 6 с. : ил. - (Препринт / Институт физики высоких энергий (Протвино) ; ИФВЭ 2015-12). - Библиогр.: с. 6 (5 назв.).

           

6.Ж2-15/58329

Латыев, С. М.

            Конструирование точных (оптических) приборов [Текст] : [учеб. пособие] / С. М. Латыев. - 2-е изд., испр. и доп. - СПб. [и др.] : Лань, 2015. - 554, [6] с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 540-550. - 700 экз. - ISBN 978-5-8114-1734-6 : - Электрон. версия кн. www.e.lanbook.com.

 

7.Д10-14/16086

Астахов, А. В.

            Основы проектирования оптических приборов и систем [Текст] : учеб. пособие / А. В. Астахов, Е. В. Полякова, В. Е. Стригалев ; С.-Петерб. гос. ун-т телекоммуникаций им. М. А. Бонч-Бруевича. - СПб. : СПбГУТ, 2014. - 42 с. : ил. - Библиогр.: с. 42 (7 назв.). - 35 экз.

 

8.Д10-14/18885

537.6/.8/537.6/.8/537.6/.8/

Попков, А. Ф.

            Физические основы магнетизма и спинового транспорта в устройствах магнитной электроники [Текст] : учеб. пособие / А. Ф. Попков, М. Н. Журавлев ; Нац. исслед. ун-т "МЭИ" (Моск. энергет. ин-т). - М. : МИЭТ, 2014. - 260 с. : ил. - Библиогр.: с. 255-256 (9 назв.). - 200 экз. - ISBN 978-5-7256-0758-1.

 

9.Д10-14/16702

Кретушев, А. В.

            Обработка и анализ фазовых изображений [Текст] : учеб. пособие / А. В. Кретушев ; Моск. гос. техн. ун-т радиотехники, электроники и автоматики. - М. : ВНИИгеосистем, 2014. - 63 с. : ил. - Библиогр.: с. 61-63 (33 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-8481-0182-9

 

10.М/69162/2

Российская конф. по электронной микроскопии (25; 2014; Черноголовка).

            XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов". РКЭМ - 2014 [Текст] : 2 июня - 6 июня 2014 г. : тез. докл. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013 -     .

            Т. 2. - 2014. - 662 с. : ил. - Библиогр. в конце отд. ст. - Тираж не указ. - ISBN 978-5-89589-069-1

 

11.М/69162/1

Российская конф. по электронной микроскопии (25; 2014; Черноголовка).

            XXV Российская конференция по электронной микроскопии и 2-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов". РКЭМ - 2014 [Текст] : 2 июня - 6 июня 2014 г. : тез. докл. - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2013 -     .

            Т. 1. - 2013. - 348 с. : ил. - Библиогр. в конце отд. ст. - Тираж не указ. - ISBN 978-5-89589-068-4

 

12.Н/2509/Р13-2013-108

            КАРС-микроскоп: возможности, первые результаты, проблемы и перспективы [Текст] / Г. М. Арзуманян [и др.]. - Дубна : ОИЯИ, 2013. - 14 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исслед. (Дубна) ; Р13-2013-108). - Библиогр.: с. 13 (15 назв.). - 245 экз.

 

13.М/68681/1

Васичев Б. Н.

            Инновационное развитие электронной техники [Текст] : учеб. пособие : в 2-х ч. / Б. Н. Васичев, И. Н. Савченкова. - М. : РЭУ им. Г. В. Плеханова, 20 -     . - В надзаг.: Рос. экон. ун-т им. Г. В. Плеханова.

            Ч. 1 : Электронная микроскопия. - 2013. - 60 с. : ил. - Библиогр.: с. 59-60. - 200 экз. - ISBN 978-5-7307-0910-2

 

14.Д10-13/1905

Бочарова, Т. В.

            Биологические наноструктуры [Текст] : методы зондовой микроскопии: учеб. пособие / Т. В. Бочарова, А. Н. Власова. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2013. - 275 с. : ил. - (Приоритетный национальный проект "Образование"). - Библиогр.: с. 273-275 (36 назв.). - 32 экз. - ISBN 978-5-7422-4009-9 : Б. ц. - В надзаг.: С.-Петерб. политехн. ун-т, Нац. исслед. ун-т

 

15.Н/20115/2

681/Б 435

Белозеров А. Ф.

            Оптика России [Текст] : очерки истории и развития / А. Ф. Белозеров. - Казань : Центр инновац. технологий, 2012 -    

            Т. 2. - 2013. - 611 с. : ил. - 1000 экз. - ISBN 978-5-93962-587-6

 

16.Ж2-12/54998

Тучин, В. В.

            Оптика биологических тканей. Методы рассеяния света в медицинской диагностике [Текст] / В. В. Тучин; пер. с англ. В. Л. Дербова: под ред. В. В. Тучина. - М. : Физматлит, 2012. - 811 с. : ил. - Библиогр.: с. 691-795. Предм. указ.: с.796-811. - Пер. изд.: Tuchin V. Tissue optics. - Bellingham, 2007. - 300 экз. - ISBN 978-5-9221-1422-6

 

17.Н/20102/8(2012)

Московский гос. технический ун-т им. Н. Э. Баумана.

            Вестник Московского государственного технического университета им. Н.Э. Баумана. Серия приборостроение [Текст] : науч.-теорет. и приклад. журн. широкого профиля: спец. вып. / Московский гос. технический ун-т им. Н. Э. Баумана. - М. : [б. и.], 20 -     .

            № 8(2012) : Современные проблемы оптотехники. - 2012. - 188 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Тираж не указ.

 

18.Н/20102/9(2012)

Московский гос. технический ун-т им. Н. Э. Баумана.

            Вестник Московского государственного технического университета им. Н.Э. Баумана. Серия приборостроение [Текст] : науч.-теорет. и приклад. журн. широкого профиля: спец. вып. / Московский гос. технический ун-т им. Н. Э. Баумана. - М. : [б. и.], 20 -     .

            № 9(2012) : Современные проблемы оптотехники. - 2012. - 204 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - Тираж не указ.

 

19.Д10-12/4858

            Лазерная физика, наноструктуры, квантовая микроскопия [Текст] : материалы Междунар. молодеж. конф., 17-18 сент. 2012 г. - Томск : Изд-во Том. ун-та, 2012. - 148 с. : ил. - Библиогр. в конце отд. ст. - Тираж не указ. - ISBN 978-5-94621-374-5 : Б. ц. - В надзаг.: Национальный исследовательский Томский гос. ун-т

 

20.Н/19845/2

Точприбор [Текст] / ОАО "ЦКБ "Точприбор"; отв. ред.-сост. В. В. Малинин. - Новосибирск : Наука, 20 -     .

            Т. 2 : Оптические и оптико-электронные приборы, гражданского и общепромышленного назначения. - 2011. - 261 с. - Библиогр.: с. 248-251. - 200 экз. - ISBN 978-5-91864-024-1

 

21.Д9-11/82154

Плескова, С. Н.

            Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях [Текст] / С. Н. Плескова. - М. : Интеллект, 2011. - 183 с. - Библиогр.: с. 173-183. - 800 экз. - ISBN 978-5-91559-108-9

 

22.Д9-11/75633

Русинов, М. М.

            Техническая оптика [Текст] : учеб. пособие / М. М. Русинов. - 2-е изд. - М. : URSS, 2011 (Москва). - 488 с. : ил. - (Классика инженерной мысли: оптика и ее приложения). - Библиогр.: с. 483 (28 назв.). - ISBN 978-5-397-01704-6

 

23.Ж2-11/49821

            Научные основы нанотехнологий и новые приборы [Текст] : учебник: пер. с англ. / Под ред. Р. Келсалла и др. - Долгопрудный : Интеллект, 2011 (Чебоксары). - 527 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-91559-048-8.

 

24.Ж2-10/49276

Кирилловский, В. К.

            Современные оптические исследования и измерения [Текст] : учеб. пособие / В. К. Кирилловский. - СПб.[ и др.] : Лань, 2010 (Киров). - 303 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - 1000 экз. - ISBN 978-5-8114-0989-1

 

25.Д9-10/76212

Кочаков, В. Д.

            Основы атомно-силовой наноскопии [Текст] : учеб. пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин. - Чебоксары : Изд-во Чуваш. ун-та, 2010 (Чебоксары). - 55 с. : ил. - Библиогр.: с. 54 (4 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-7677-1482-7 : Б. ц. - В надзаг.: Чуваш. гос. ун-т им. И. Н. Ульянова.

 

26.Д9-10/76890

Габдуллин, П. Г.

            Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия [Текст] : учеб. пособие / П. Г. Габдуллин, З. А. Костюченко, Н. И. Поречная. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2010 (СПб.). - 71 с. : ил. - (Приоритетный национальный проект "Образование"). - Библиогр.: с. 65 (13 назв.). - 52 экз. - ISBN 978-5-7422-2892-9 : Б. ц. - В надзаг.: С.-Петерб. гос. политехн. ун-т, Нац. исслед. ун-т.

 

27.М/66511/1

Физические основы наноэлектроники [Текст] : учеб.-метод. пособие / А. Ю. Дашина [и др.]. - Калининград : Изд-во РГПУ им. А. И. Герцена, 2010 -     . - В надзаг.: Рос. гос. пед. ун-т им. А. И. Герцена.

            Ч. 1 : Сканирующая зондовая микроскопия. - 2010. - 86 с. : ил. - Библиогр.: с. 85-86 (9 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-8064-1645-3

 

28.Д9-09/64905

Миронов, В. Л.

            Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов старших курсов вузов / В. Л. Миронов. - М. : Техносфера, 2009 (Чебоксары). - 143 с. : ил. - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-94836-236-6 ()- В надзаг.: Рос. АН, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород

 

29.Д9-09/63781

            Прикладная оптика [Текст] : учеб. пособие / Л. Г. Бебчук [и др.]; под ред. Н. П. Заказнова. - 3-е изд., стер. - СПб.[ и др.] : Лань, 2009 (Архангельск). - 312 с. : ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 300-301 (29 назв.). Указ.: с. 302-309. - 1500 экз. - ISBN 978-5-8114-0757-6.

 

30.Д9-08/43304

681/О-627

            Оптические измерения [Текст] : учеб. пособие / А. Н. Андреев [и др.]. - М. : Логос, 2008. - 415 с. : ил. - (Новая университетская библиотека). - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 415 (20 назв.). - 2000 экз. - ISBN 978-5-98704-173-2

 

31.М/64376/1

Леви В.В.

            Основы электродинамики [Текст] : учеб. пособие: в 2 ч. / В. В. Леви, И. Г. Коваленко. - Волгоград : ВолГУ, 2008 -     . - В надзаг.: Волгогр. гос. ун-т.

            Ч. 1 : Микроскопическая теория. - 2008. - 115 с. - Библиогр.: с. 6 (10 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-9669-0467-8. - ISBN 978-5-9669-0466-1

 

32.Д9-07/39050

Егорова, О. В.

            Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей. С микроскопом на "ты" [Текст] / О. В. Егорова. - Изд. 2-е, перераб. - М. : Техносфера, 2007. - 357 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 355-357 (60 назв.). - 1000 экз. - ISBN 978-5-94836-129-1.

 

33.Д9-07/38407

621.385/С 423

            Сканирующие зондовые микроскопы [Текст] : учеб. пособие / С. Б. Нестеров [и др.]. - М. : МЭИ, 2007 (М.). - 199 с. : ил. - Библиогр.: с. 196-199. - 300 экз. - ISBN 978-5-383-00070

 

34.Д9-07/42953

681/А 795

Арбузов, В. А.

            Методы гильберт-оптики в измерительных технологиях [Текст] : монография / В. А. Арбузов, Ю. Н. Дубнищев. - Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2007 (Новосибирск). - 314 с. : ил + 8 л. ил. - Библиогр.: с. 303-312 (128 назв.). - 400 экз. - ISBN 978-5-7782-0843-8 () : Б. ц. - В надзаг.: Новосиб. гос. техн. ун-т

 

35.Д9-07/36636

Латыев, С. М.

            Конструирование точных (оптических) приборов [Текст] / С. М. Латыев. - СПб. : Политехника, 2007 (Петрозаводск). - 578 с. - (Учебное пособие для вузов). - Библиогр.: с. 543-544 (48 назв. ). - 2000 экз. - ISBN 5-7325-0563-6.

 

36.Д9-06/34171

Сороко, Л. М.

            Новые оптические микроскопы [Текст] / Л. М. Сороко ; под ред. Ю. А. Батусова. - Дубна : ОИЯИ, 2006 (Дубна). - 88 с. : ил. - Библиогр. в конце разд. - 250 экз. - ISBN 5-9530-0136-3- В надзаг.: Объед. ин-т ядер. исслед.

 

37.Д9-06/30896

Егорова, О. В.

            С микроскопом на "ты". Шаг в XXI век. Световые микроскопы для биологии и медицины [Текст] / О. В. Егорова. - М. : Репроцентр М, 2006 (М.). - 406 с. : ил. - Библиогр.: с. 403-406 (71 назв.). - ISBN 5-949-939-060

 

38.Ж2-06/38618

Шредер, Г.

            Техническая оптика [Текст] : пер. с нем. / Г. Шредер, Х. Трайбер. - М. : Техносфера, 2006. - 423 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце доп. - Пер. изд.: Schrooder G. Technische Optik/ G. Schrooder, H. Treiber. - 9. - S.l., 2002. - 3000 экз. - ISBN 5-94836-075-X

 

39.Д9-05/22312

            Просвечивающая и растровая электронная микроскопия [Текст] : учеб. пособие / В. И. Темных [и др.]. - Красноярск : КГТУ, 2005 (Красноярск). - 91 с. : ил. - Библиогр.: с. 91(19 назв.). - 100 экз. - Б. ц. - В надзаг.: Краснояр. гос. техн. ун-т

 

40.Д9-05/10988

Маев, Р. Г.

            Акустическая микроскопия [Текст] / Р.Г. Маев. - М. : ТОРУС Пресс, 2005. - 383 с. : ил. - Библиогр.: с. 326-379. - 400 экз. - ISBN 5-94588-031-0

Рубрики: Микроскопия акустическая

 

41.Д9-05/26155

Зверев, В. А.

            Основы оптотехники [Текст] : учеб. пособие / В. А. Зверев, Т. В. Точилина. - СПб. : ИТМО, 2005 (СПб.). - 293 с. - Библиогр.: с. 292-293 (21 назв.). - 100 экз. - ISBN 5-7577-0281-8 - В надзаг.:С.-Петерб. гос. ун-т информ. технологий, механики и оптики

 

42.Д9-04/26013

Половцев, И. Г.

            Оптическое приборостроение [Текст] : учеб. пособие / И. Г. Половцев, Г. В. Симонова ; Под ред. И.В. Самохвалова. - Томск : Том. гос. ун-т, 2004 (Томск). - 398 с. - Библиогр.: с. 379-380 (32 назв.). - 250 экз. - ISBN 5-94621-148-X : Б. ц. - В надзаг.:Том. гос. ун-т, Ин-т мониторинга климат. и эколог. систем СО РАН

 

43.Д9-04/15400

Власова, О. Л.

            Физико-химические основы оптического анализа структуры и состава биосистем в медицине [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 553100 / О.Л. Власова, А.Г. Безрукова. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2004. - 74 с. : ил. - Библиогр.: с. 71-74(53 назв.). - 100 экз. - ISBN 5-7422-0775-1 - В надзаг.: С.-Петерб. гос. политехн. ун-т

 

44.Д9-04/4122

Бахтизин, Р. З.

            Физические основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по спец. 010400 - "Физика" / Р.З. Бахтизин, Р.Р. Галлямов. - Уфа : РИО БашГУ, 2004. - 82 с. : ил. - Библиогр.: с. 81-82 (40 назв.). - 150 экз. - ISBN 5-7477-1035-4 - В надзаг.: Башкир. гос. ун-т

 

45.Д8-04/99274

537.5/Н 580

Нефедов, С. А.

            Основы просвечивающей электронной микроскопии [Текст] : учеб. пособие / С.А.Нефедов. - Самара : Изд-во "Самар. ун-т", 2004. - 243 с. : ил. - 100 экз. - ISBN 5-86465-292-X - В надзаг.: Гос. образоват. учреждение высш. проф. образования "Самар. гос. ун-т", Каф. физики твердого тела.Библиогр.: с. 236-238 (49 назв.). Предм. указ.: с. 239-243.

 

46.Д8-03/91014

Раскатов, В. А.

            Использование метода электронной микроскопии в исследовании биологических объектов [Текст] : учеб. пособие / В.А.Раскатов,А.Г.Грушкин. - М. : Изд-во МСХА, 2003. - 68 с. - 100 экз. - ISBN 5-94327-161-9 : Б. ц. - В надзаг.: Моск. с.-х. акад. им. К.А.Тимирязева.Библиогр.: с. 67

 

47.Д8-03/94774

Ларюшин, А. И.

            Оптико-электронные приборы для медицины [Текст] : учеб. пособие по дисциплине "Оптико-электронные приборы для медицины" для студентов, обучающихся по направлению "Электроника и микроэлектроника" / А.И.Ларюшин,М.В.Никитина. - М. : Изд-во МЭИ, 2003. - 155 с. : ил. - 300 экз. - ISBN 5-7046-1004-8 : Б. ц. - В надзаг.: Моск. энерг. ин-т (техн. ун-т) .Библиогр.: с. 152 (5 назв.).

 

48.М/55632/2

Хацевич Т. Н.

            Медицинские оптические приборы [Текст] : учеб. пособие / Т. Н. Хацевич. - Новосибирск : СГГА, 20 -     .

            Ч. 2 : Очковая оптика. - 2002. - 240 с. : ил. - 150 экз. - ISBN 5-87693-091-1 : Б. ц. - Библиогр.: с. 239-240.

 

49.Д8-02/85402

            Современные технологии [Текст] : сб. науч. ст. / Под ред. С.А. Козлова, В.О. Никифорова. - СПб. : СПбГИТМО (ТУ), 2002. - 318 с. : ил. - 100 экз. - ISBN 5-7577-0119-6

 

50.Н/2509/Е13-2002-43

Сороко, Л. М.

            3D inspection by conical wavefronts [Text] / Л.М.Сороко. - dUBNA, 2002. - 18 p. : il. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е13-2002-43). - 315 экз. - Перед загл.авт.: L.M.Soroko

 

51.М/42285/7(2001)

            Сканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света [Текст] / А.М.Прохоров,Г.Я.Зуева,Н.В.Сережкина,В.С.Зуев;Прохоров А.М., Зуева Г.Я., Сережкина Н.В. и др. - М., 2001. - 15 с. : ил. - (Препринт / Институт общей физики (Москва) ; 7(2001)). - 65 экз. - Б. ц. - Библиогр.: с. 15(12 назв.)

 

52.Ж2-01/27484

            Scanning probe microscopy - 2001 [Text] : international workshopProceedingsNizhny Novgorod,February 26-March 1,2001. - Nizhny Novgorod : [s. n.], 2001. - 274 p. : il. - 90 экз. - Б. ц. - В надзаг.: Institute for physics of microstructures RAS. Библиогр. в конце отд. докл.

 

53.Д8-01/68022

Грудин, Б. Н.

            Моделирование и анализ изображений в электронной и оптической микроскопии [Текст] / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников, В. К. Фищенко. - Владивосток : Дальнаука, 2001. - 221 с. : ил. - 300 экз. - ISBN 5-8044-0084-3 : Б. ц. - На тит. л. авт.: Б. А. (!) Грудин. Библиогр.: с. 216-219 (73 назв.)

 

54.М/58045/1

Петров В. И.

            Сканирующая микроскопия [Текст] / Петров В.И.,Лукьянов А.Е. - М. : Физ. фак. МГУ, 20 -     .

            Ч. 1. - 2001. - 108 с. : ил. - 100 экз. - Б. ц. - Библиогр.: с.108

 

55.Д8-01/71313

Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (12 ; 2001 ; Черноголовка).

            ХП Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'2001 [Текст] : 4-6 июня 2001 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (12 ; 2001 ; Черноголовка) . - Черноголовка : [б. и.], 2001. - 193 с. : ил. - 200 экз. - ISBN 5-89589-024-5 : Б. ц. - В надзаг.: Рос. АН, Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии и др. Библиогр. в конце отд. докл. Авт. указ.: с.190-193

 

56.Ж2-00/25192

            Зондовая микроскопия - 2000 [Текст] : материалы совещ.Ниж. Новгород, 28 февр.-2 марта 2000 г. - Н.Новгород : [б. и.], 2000. - 388 с. : ил. - 80 экз. - Б. ц. - В надзаг.: Ин-т физики микроструктур РАН. Библиогр. в конце отд. докл. Авт. указ.: с.383-384

 

57.Д8-00/59297

Егорова, О. В.

            С микроскопом на "ты" [Текст] / О.В.Егорова. - СПб. : Интермедика, 2000. - 326 с. : ил. - 3000 экз. - ISBN 5-89720-028-9

 

58.Д8-00/57024

Российская конф. по электронной микроскопии (18 ; 2000).

            XVIII Российская конференция по электронной микроскопии ЭМ'2000 [Текст] : 5 июня-8 июля 2000 г.:Тез. докл. / Российская конф. по электронной микроскопии (18 ; 2000) . - Черноголовка : [б. и.], 2000. - 338 с. - 300 экз. - ISBN 5-89589-020-2 : Б. ц. - В надзаг.:Рос.АН, Науч.совет по электрон.микроскопии, Ин-т пробл.технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии.Библиогр.в конце отд.ст.Авт.указ.:с.331-338

 

59.Д8-00/59374

            Просвечивающая и растровая электронная микроскопия [Текст] : учеб. пособие для студентов по спец. 551600, 071000 / В.И.Темных,Г.М.Зеер,Е.М.Артемьев и др. - Красноярск : [б. и.], 2000. - 80 с. : ил. - 100 экз. - ISBN 5-7636-0292-7 : Б. ц. - В надзаг.: Краснояр. гос. техн. ун-т. Библиогр.: с. 79-80 (17 назв.)

 

60.Ж2-99/27121

            Зондовая микроскопия - 99 [Текст] : материалы Всерос. совещания, Н.Новгород, 10-13 марта 1999 г. - Н. Новгород : [б. и.], 1999. - 434 с. : ил. - 70 экз. - Б. ц. - В надзаг.:Ин-т физики микроструктур РАН. Библиогр. в конце ст.

 

61.Ж2-97/19723

            Сканирующая туннельная микроскопия [Текст] : руководство пользователя / И.С.Суровцев,Л.А.Битюцкая,Д.С.Долгих,М.В.Мамута. - Воронеж : [б. и.], 1997. - 42 с. : ил. - 100 экз. - ISBN 5-85813-111-5 : Б. ц. - В надзаг.:Воронеж.гос.ун-т.Библиогр.:с.39-40(14 назв.)

 

62.Д8-96/27426

Усанов, Д. А.

            Телевизионная измерительная микроскопия [Текст] / Д.А.Усанов,А.В.Скрипаль. - Саратов : Изд-во Сарат. ун-та, 1996. - 129 с. : ил. - 100 экз. - Б. ц. - Библиогр.: с.116-129 (139 назв.)

 

63.Д8-94/22595

Преображенский, М. Н.

            Физические основы акустической микроскопии [Текст] : учеб. пособие / М.Н.Преображенский. - Ярославль : [б. и.], 1995. - 64   c. : ил. - 150 экз. - Б. ц. - В надзаг.:Ярослав. гос. ун-т. Библиогр.:с.63-64(21назв.)

 

64.Д8-93/7994

Миллер, М.

            Зондовый анализ в автоионной микроскопии [Текст] : принципы и прил. в материаловеденииПер. с англ. под ред. А. Л. Суворова / М.Миллер,Г.Смит. - М. : Мир, 1993. - 301 с. : ил. - . - Пер. изд.: Miller M.K. Atom probe microanalysis/ M.K. Miller, G.D. Smith. - S.l.,s.a. - 1000 экз. - ISBN 5-03-002507-3 : Б. ц. - Библиогр.:с.281-293.Предм.-имен. указ. с.294-298

 

65.Д8-92/6028

Дюков, В. Г.

            Растровая оптическая микроскопия [Текст] / В.Г.Дюков,Ю.А.Кудеяров. - М. : Наука, 1992. - 207 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - 1000 экз. - ISBN 5-02-014374-X : Б. ц. - Библиогр.: с. 203-207 (132 назв.)

 

66.Д7-91/92959

Дюков, В. Г.

            Электронная микроскопия локальных потенциалов [Текст] / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов. - Киев : Наукова думка, 1991. - 198 с. : ил. - 710 экз. - ISBN 5-12-002339-8 : 3.90 р. - В надзаг.:АН СССР,Ин-т физики.Библиогр.:с.190-196

 

67.М/43588/1991

            Разупорядоченные системы. Баллистический перенос электронов. Границы возможного в микроэлектронике. Поляризованный гелий-3. О космических гамма-частицах. Микроскоп на антиматерии [Текст] : сб. ст. - М. : Мир, 1991. - 180 с. : ил. - (Физика за рубежом...Серия А.Исследования ; 1991). - 1.20 р. - Библиогр. в конце ст.

 

68.Д7-91/87647

Русов, В. Д.

            Восстановление изображений в электронно-микроскопической авторадиографии поверхности [Текст] / В. Д. Русов, Ю. Ф. БабиковаЯгода А.Г. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 214 c. : ил. - 850 экз. - ISBN 5-283-03046-6 : 3 р. - Библиогр.: с. 207-212 (191 назв.)

 

69.Д7-91/86625

Всесоюзный симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (7 ; 1991 ; Звенигород).

            Тезисы докладов VII Всесоюзного симпиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел [Текст] : (РЭМ-91), г. Звенигород, 1991 г. / Всесоюзный симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (7 ; 1991 ; Звенигород) . - М. : [б. и.], 1991. - 175 c. : ил. - 300 экз. - 2.90 р. - В надзаг.: Науч. совет АН СССР по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова АН СССР, Ин-т пробл. технологии микроэлектроники и особо чистых материалов АН СССР. Авт. указ.: с.171-174

 

70.М/9354/1(1990)

            30-кратный рентгеновский микроскоп на основе сферически изогнутых кристаллов [Текст] / М.Вилльямс,М.Гранде,С.Дэвидсон и др. - М., 1990. - 22 с. : ил. - ; N1(1990)). - 100 экз. - Б. ц. - Библиогр.: с. 21-22 (10 назв.)

 

71.Н/2509/Д13-89-549

Сороко, Л. М.

            Изопланатические системы в мезооптике [Текст] / Л.М.Сороко. - Дубна, 1990. - 10 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Д13-89-549). - 430 экз. - 00.29 р. - Библиогр.: с. 10(11 назв.)

 

72.Д7-90/83541

Родыгина, В. Г.

            Начала минераграфии [Текст] : учеб. пособие / В.Г.Родыгина;Под ред. Ю.В.Индукаева. - Томск : Изд-во Том. ун-та, 1990. - 174 с. : ил. - 500 экз. - 00.30 р. - В надзаг.:Том.гос.ун-т им. В.В.Куйбышева. Библиогр.:с.171-173(38назв.)

 

73.Д7-90/82527

Мейлер, Б. Л.

            Основы электронной микроскопии [Текст] : метод. пособие для пользователей / Б.Л.Мейлер. - Таллинн : [б. и.], 1990. - 100 c. : ил. - 290 экз. - 0.20 р. - На обл. авт. не указ.В надзаг.:Таллин. техн. ун-т, Лаб. электрон. микроскопии и рентген. анализа. Библиогр.: с. 97-100 (33 назв.)

 

74.Д7-90/82061

Бушнев, Л. С.

            Основы электронной микроскопии [Текст] : учеб. пособие / Л. С. Бушнев, Ю. Р. Колобов, М. М. Мышляев. - Томск : Изд-во Том. ун-та, 1990. - 218 с. : ил. + 1 л. ил. - 1000 экз. - ISBN 5-7511-0276-2 : 0.40 р. - В надзаг.: Сиб. физ.-техн. ин-т им. В. Д. Кузнецова при Том. гос. ун-те им. В. В. Куйбышева.Библиогр.: с. 215

 

75.Д7-90/79396

Сапарин, Г. В.

            Введение в растровую электронную микроскопию [Текст] : учеб. пособие / Г.В.Сапарин. - М. : Изд-во МГУ, 1990. - 128 c. : ил. - 500 экз. - ISBN 5-211-00625-9 : 0.20 р. - В надзаг.:МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак.Библиогр.: с. 126 (14 назв.).

 

76.Д7-90/79234

Всесоюзная конф. по электронной микроскопии (14 ; 1990 ; Суздаль).

            Тезисы докладов XIV Всесоюзной конференции по электронной микроскопии, г. Суздаль, 1990 г. [Текст] / Всесоюзная конф. по электронной микроскопии (14 ; 1990 ; Суздаль) . - М. : [б. и.], 1990. - 286 с. : ил. - 300 экз. - 3.35 р. - Библиогр. в конце докл.В надзаг.: Науч. совет АН СССР по электрон. микроскопии, Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова АН СССР, Ин-т пробл. технологии микроэлектроники и особо чистых материалов АН СССР, Ин-т физики твердого тела АН СССР

 

77.Д7-90/68229

            Основы аналитической электронной микроскопии [Текст] / Под ред. Д.Д.Грена и др.; Пер. с англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 584 c. : ил. - 1800 экз. - ISBN 5-229-00375-5 : 7 р. 40 к. р. - Библиогр.: с. 576-578 (31 назв.)

 

78.Н/12013/ИАЭ-4968/14

            Горизонтальный нейтронный микроскоп [Текст] / С.С.Арзуманов,И.А.Карасева,Ю.В.Кудряшов и др. - М., 1989. - 16 c. : ил. - (Препринт / "Курчатовский ин-т",российский науч.центр(Москва) ; ИАЭ-4968/14). - 200 экз. - 20 к. р. - Библиогр.: с. 15-16 (15 назв.)

 

79.Д8-63/11806

Всесоюзное совещание по электронной микроскопии (4 ; 1963 ; Сумы).

            Всесоюзное совещание по электронной микроскопии [Текст] : тез.докл. / Всесоюзное совещание по электронной микроскопии (4 ; 1963 ; Сумы) . - Сумы : [б. и.], 1960. - 39   c. : ил. - m. - Тираж не указ. - Б. ц. - В надзаг.:НТО радиотехники и электросвязи им.А.С.Попова

 

80.Ж2-86/10817

            Энгель Л., Клингеле Г.

Растовая электронная микроскопия: Разрушение: Справ. / Пер с нем Г.Е. Левина; под ред. МюЛ. Бернштейна. М.: металлургия, 1986. -231с.

 

81.Ж2-86/10176

            Электронная микроскопия и вопросы диагностики: Тез. III Респ.научн.-техн. Конф. По электрон. Микроскопии, Кишинев, 31 марта – 1 апреля 1986 г. -173 с.

 

82.Д5/45034

            Курчинская Л.Н.

Микроскопы: Учеб. Пособие. –Л., 1979. -86 с., ил._ В надзаг. :М-во высш. И средн. Спец. Образования СССР, Ленингр. Ин-т точной механики и оптики. Каф. Опт. Приборов. Библиогр. : с.85 (6 назв.).

 

83.Ж/5909

Кислов, Н. М.

            Теория оптических инструментов [Текст] / Н. М. Кислов. - М. : Типо-литогр. Т-ва И. Н. Кушнерев и Ко, 1915. - XVI, 594 c. : ил. - Сведения доступны также по Интернету

 

84.Ж/11323

            Изготовление объективов для телескопов, микроскопов и фотографии. Микроскоп и телескоп. Оптическая техника [Текст] / сост. С. Е. Троцевич. - Варшава : Тип. АО С. Оргельбранда сыновей, 1903. - Х,312 с. : ил. - Сведения доступны также по Интернету: ..

 

85.J2/28003

            Atomic force microscopy in process engineering [Text] : introduction to AFM for improved processes and products / ed.: W. R. Bowen, N. Hilal. - Oxford : Butterworth-Heinemann, 2009. - XVI, 283 p. : ill. - Библиогр. в конце частей. Указ.: с. 281-283. - ISBN 978-1-85617-517-3.

 

86.R/18220/2

Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale [Text] / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York, NY : Springer, 2007 -     .

            Vol. 2. - 2007. - XX, p. 561-980 : il. - Указ.: с. 974-980. - 2089.27 р.

 

87.R/18220/I

Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale [Text] / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. - New York, NY : Springer, 2007 -     .

            Vol. I. - 2007. - XX, 565 p. : il. - Указ.: с. 559-565. - ISBN 978-0387-28667-9

 

88.R/12165/27,N 1

La rivista del nuovo cimento. Ser.3-4 [Text]. - Bologna : [s. n.], 19 - -     . - ISSN 0393-697X.

            Vol. 27,N 1 : Apertureless near-field optical microscopy / Patane S., Gucciardi P. G.Labardi M.Allegrini M. - Bologna : Soc. ital. di fisica, 2004. - 45 p. : ill. - . -Библиогр.:с.42-46. - 30.00 р.

Рубрики: Микроскопия

 

89.R/18177/95

Advances in biochemical engineering/ Biotechnology [Text] / ed. T. Scheper. - Berlin : Springer, 20 -     . - ISSN 0724-6145.

            95 : Microscopy techiques / ed. J. Rietdorf; with contributions by T. W. J. Gadella, R. Graf, A. B. Houtsmuller, T. Kohl, K. Miura [et al.]. - Berlin[etc.] : Springer, 2005. - VI, 319 p. : ill. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 297-319. - ISBN 3-540-23698-8 :

 

90.J2/27428

Foster, A.

            Scanning probe microscopy. Atomic scale engineering by forces and currents [Text] / A. Foster, W. Hofer. - New York, NY [etc.] : Springer, 2006. - XIV, 281 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 279-281. - ISBN 0-387-40090-7

 

91.R/18201/4

Applied scanning probe methods [Text] / ed. B. Bhushan [et al.]. - Berlin[etc.] : Springer, 20 -     .

            4 : Industrial applications. - Berlin[etc.] : Springer, 2006. - XLIV, 284 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 277-284. - ISBN 3-540-26912-6

 

92.R/18201/3

Applied scanning probe methods [Text] / ed. B. Bhushan [et al.]. - Berlin[etc.] : Springer, 20 -     .

            3 : Characterization. - Berlin[etc.] : Springer, 2006. - XLIII, 378 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 371-378. - ISBN 3-540-26909-6

 

93.R/18201/2

Applied scanning probe methods [Text] / ed. B. Bhushan [et al.]. - Berlin[etc.] : Springer, 20 -     .

            2 : Scanning probe microscopy techniques. - Berlin[etc.] : Springer, 2006. - XLIII, 420 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 413-420. - ISBN 3-540-26242-3

 

94.Q/3887/99

Springer series in optical sciences [Text] / ed. W. T. Rhodes [et al.]. - Berlin[etc.] : Springer Verl., 19 -     . - ISSN 0342-4111.

            99 : Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy. Route to femtosecond Angstrom technology / ed. M. Yamashita [et al.]. - Berlin [etc.], 2005. - XX, 389 p. : ill. - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 385-389. - ISBN 3-540-21446-1 :

 

95.J2/27531

Egerton, R. F.

            Physical principles of electron microscopy. An introduction to TEM, SEM, and AEM [Text] / R. F. Egerton. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2005. - XII, 202 p. : ill. - Библиогр.: с. 195-196. Указ.: с. 197-202. - ISBN 0-387-25800-0 :

 

96.J2/27316

            Nanoscale calibration standards and methods [Text] : dimensional and related measurements in the micro- and nanometr range / ed. G. Wilkening, L. Koenders. - Weinheim : Wiley-VCH Verl., 2005. - XXII, 519 p. : ill. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 515-519. - ISBN 3-527-40502-X

 

97.R/18121/123

Advances in imaging and electron physics [Text] / Ed. P.W.Hawkes. - San Diego, Ca : Acad. press.

            Vol. 123 : Microscopy, spectroscopy, holography and crystallography with electrons . - 2002. - XVI,462 p. p. : ill. - ISBN 0-12-014765-3 : 30.00 р. - Библиогр.:с.447-450.Указ.:c.451-462

 

98.R/18121/122

Advances in imaging and electron physics [Text] / Ed. P.W.Hawkes. - San Diego, Ca : Acad.press.

            Vol. 122 : Electron microscopy and holography II. - 2002. - XIV,336 p. p. : ill. - ISBN 0-12-014764-5 : 30.00 р. - Библиогр.:с.324-327.Указ.:c.329-336

 

99.R/18121/121

Advances in imaging and electron physics [Text] / Ed. P.W.Hawkes. - San Diego, Ca : Acad.press.

            Vol. 121 : Electron microscopy and holography. - 2002. - XIV,340 p. p. : ill. - ISBN 0-12-014763-7 : 30.00 р. - Библиогр.:с.330-332.Указ.:c.333-340

 

100.R/16889/663

            Design and optimization of tapered structure of near-field fiber probe based on FDTD simulation [Text] / H.Nakamura,T.Sato,H.Kambe и др. - Toki : [s. n.], 2000. - 4 p. : ill. - (Research report NIFS series / Nat.inst.for fusion science, ISSN 0915-633X ; n663). - 20.00 р. - Библиогр.: с.4

 

101.J2/24501

Ruijter, W. J.de

            Quantitative high-resolution electron microscopy and holography [Text] : diss. / W.J.de Ruijter. - Delft : [s. n.], 1992. - 167 p. : ill. - ISBN 90-6275-752-9 : 10 р. - Рез.гол.Библиогр. в конце статей

 

102.J2/21716

Dubbeldam, L.

            <A >voltage contrast detector with double channel energy analyzer in a scanning electron microscope [Text] : diss. / L.Dubbeldam. - Delft : [s. n.], 1989. - 129 p. : ill. - ISBN 90-6275-568-2 : 1.00 р. - Библиогр.:с.110-121

 

103.J2/23441

International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy (4 ; 1989 ; Oarai).

            Proceedings of the 4th International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy July 9-14, 1989, Oarai [Text] / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy (4 ; 1989 ; Oarai) ; ed. T. Ichinokawa. - New York, NY : Amer. inst. of phys., 1990. - 720 p. : ill. - ISBN 0-88318-713-2 : 180.00 р. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с. 719-720

 

104.J2/23221

Namba, S.

            Microscopic construction electronics [Text] : Kyokubi kozo erekutoronikusu / S.Namba. - Tokyo : Ohm-sha, S. a. - VII,522 p. p. : ill. - ISBN 4-274-03107-1 : 40.00 р. - Библиогр.:с.506-512

 

105.G2/16708

Gloede, W.

            Vom Lesestein zum Elektronenmikroskop [Text] / W.Gloede. - Berlin : Technik, 1986. - 248 S. : Ill. - ISBN 3-341-00104-2 : 11.00 р. - Указ.:с.243-248

 

106.R/9632/319

            Optics at the nanometer scale [Text] : imaging and storing with photonic near fieldsProc.of the NATO Advanced research workshop on near field optics:recent progress and perspectives,Madrid,Sept.11-15,1995 / ed.: M. Nieto-Vesperinas, N. Garcia. - Dordrecht [etc.] : Kluwer, 1996. - IX,301 p. p. : ill. - (NATO advanced study institutes series. Ser.E, Applied sciences ; vol.319). - ISBN 0-7923-4020-5 : 75000 р. - Библиогр.в конце статей

 

107.Q/3887/75

Gu, M.

            Advanced optical imaging theory [Text] / M.Gu. - Berlin[etc.] : Springer, 2000. - XII,214 p. p. : ill. - (Springer series in optical sciences ; n75). - ISBN 3-540-66262-6 : 1044.99 р. - Библиогр.в конце ст.Указ.:с.211-214

 

2.Исследования методами микроскопии

 

108.Д/8746

Общие правила обращения с микроскопами Цейсса. Спб., Цейсс, б.г. - 26с.

 

109.Д10-16/36130

Баранова, Е. Н.

            Цитологические методы трансмиссионной электронной микроскопии в биотехнологии переработки и производстве продуктов питания из растительного сырья [Текст] : учеб.-метод. пособие / Е. Н. Баранова, Н. В. Лаврова, Г. Б. Баранова ; Рос. гос. аграр. ун-т- МСХА им. К. А. Тимирязева . - М. : Изд-во РГАУ-МСХА, 2016. - 47 с. : ил. - Библиогр.: с. 47 (6 назв.). - 50 экз. - ISBN 978-5-9675-1482-1.

 

110.М/70676/1

Российская конф. по электронной микроскопии (26; 2016; Москва/ Зеленоград).

            XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и 4-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" [Текст] : в рамках Междунар. форума "Техноюнити - РКЭМ - 2016", г. Москва Зеленоград, 30 мая - 3 июня 2016 г. : тез. докл. - Зеленоград : ИПТМ РАН, 2016 -     .

            Т. 1. - 2016. - XVIII,387 с. : ил. - Библиогр. в конце отд. ст. - Тираж не указ. - ISBN 978-5-89589-094-3

 

111.М/70676/2

Российская конф. по электронной микроскопии (26; 2016; Москва/ Зеленоград).

            XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и 4-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов" [Текст] : в рамках Междунар. форума "Техноюнити - РКЭМ - 2016", г. Москва Зеленоград, 30 мая - 3 июня 2016 г. : тез. докл. - Зеленоград : ИПТМ РАН, 2016 -     .

            Т. 2. - 2016. - XVIII, с. 379-764 с. : ил. - Библиогр. в конце отд. ст. - Тираж не указ. - ISBN 978-5-89589-095-0

 

112.Д10-15/20176

Андреева, Н. В.

            Экспериментальные методы исследования. Методики туннельной и атомно-силовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие / Н. В. Андреева, П. Г. Габдуллин, А. М. Журкин ; С.-Петерб. гос. политехн. ун-т. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2015. - 104 с. : ил. - Библиогр.: с. 102-103 (20 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-7422-4647-3

 

113.Д10-14/12826

Полушин, Н. И.

            Сверхтвердые материалы. Рентгенографические, электронно-микроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов. Практикум [Текст] : учеб. пособие / Н. И. Полушин, И. Ю. Кучина, А. Л. Маслов. - М. : Изд. дом МИСиС, 2014. - 56 с. : ил. - Библиогр.: с. 56. - 100 экз. - ISBN 978-5-87623-796-5

 

114.Ж2-14/57200

            Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении [Текст] / под ред. А. Шварца др.; пер. с англ. С. А. Иванова. - М. : Техносфера, 2014. - 559 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце глав. - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-385-1

 

115.М/24446/2946

Байрамуков, В. Ю.

            Исследование структуры пиролизованных дифталоцианинов методом атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. Ю. Байрамуков, Д. В. Лебедев, В. И. Тихонов. - Гатчина, 2014. - 11 с. : ил. - (Препринт / Петербургский ин-т ядерной физики им. Б.П. Константинова ; 2946 = М/24446). - Библиогр.: с. 11(11 назв.). - 80 экз. - ISBN 978-5-86763-331-8

 

116.Д10-13/8690

621.3.049.76/621.3.049.76/

Шубин, Н. Е.

            От микроэлектроники к функциональной полимерной наноэлектронике [Текст] : учеб. пособие / Н. Е. Шубин. - М. : Терек, 2013. - 179 с. : ил. - Библиогр.: с. 171-176 (76 назв.). - 1000 экз. - ISBN 978-5-901585-73-3 : Б. ц. - В надзаг.: Сев.-Кавказ. гор.-металлург. ин-т (гос. технол. ун-т)

 

117.Д10-13/2578

Власов, Е. А.

            Методы исследования минералов. Растровая и просвечивающая электронная микроскопия и электронно-зондовый микроанализ [Текст] : учеб. пособие / Е. А. Власов, Д. Г. Кощуг, Т. В. Посухова. - Изд. 2-е, перераб. и доп. - М. : ГЕОХИ РАН, 2013. - 95 с. : ил. - Библиогр.: с. 94 (10 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-905049-07-1 : Б. ц. - В надзаг.: МГУ им. М. В. Ломоносова, Геол. фак.

 

118.Д10-13/1332

Сафина, Н. П.

            Микроскопические методы в исследовании руд [Текст] : учеб. пособие / Н. П. Сафина, К. А. Новоселов. - Челябинск : Изд. центр ЮУрГУ, 2013. - 168 с. : ил. - Библиогр.: с. 119-123 (70 назв.). - 200 экз. - ISBN 978-5-696-04435-4 : Б. ц. - В надзаг.: Юж.-Урал. гос. ун-т

 

119.М/68252/2

Нанотехнологии в электронике [Текст] / под ред. Ю. А. Чаплыгина. - М. : Техносфера, 20 -     . - (Мир электроники).

            Вып. 2. - 2013. - 686 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - 250 экз. - ISBN 978-5-94836-353-0

 

120.Д9-13/98459

            Методы получения и исследования наноматериалов и наноструктур [Текст] : лаб. практикум по нанотехнологиям: учеб. пособие / Е. Д. Мишина [и др.] ; под ред. А. С. Сигова. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : БИНОМ, Лаб. знаний, 2013. - 184 с. : ил. - (Учебник для высшей школы). - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 181-184 (73 назв.). - 1000 экз. - ISBN 978-5-9963-0617-6

 

121.Ж2-13/54303

            Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Текст] / Р. Андерхальт [и др.]; под ред. У. Жу, Уфнга Ж. Л.; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина; под ред. Т. П. Каминской. - М. : Бином. Лаб. знаний, 2013. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд.: Scanning microscopy for nanotechnology. - S.l., 2006. - 700 экз. - ISBN 978-5-9963-1110-1

 

122.Д10-13/3697

Левшов, Д. И.

            Определение структуры углеродных нанотрубок методами электронной дифракции и электронной микроскопии [Текст] : учеб. пособие / Д. И. Левшов, Ю. И. Юзюк. - Ростов н/Д : Содействие - XXI век, 2013. - 34 с. : ил. - Текст англ. Парал. тит. л. рус. - Библиогр.: с. 32-34 (30 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-91423-073-6 : Б. ц. - В надзаг.: Юж. Федер. ун-т

 

123.Д9-12/95059

Нагорнов, Ю. С.

            Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии [Текст] : учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков. - Тольятти : ТГУ, 2012. - 58 с. : ил. - Библиогр.: с. 57-58 (17 назв.). - 1000 экз. - ISBN 978-5-88504-099-0 : Б. ц. - В надзаг.: Тольят. гос. ун-т

 

124.Д10-12/7644

Пикулев, В. Б.

            Нанофотоника [Текст] : учеб. пособие / В. Б. Пикулев, С. В. Логинова. - Петрозаводск : Изд-во ПетрГУ, 2012. - 90 с. : ил. - Библиогр.: с. 87-90 (52 назв.). - 130 экз. - ISBN 978-5-8021-1476-6 : Б. ц. - В надзаг.: Петрозавод. гос. ун-т.

 

125.Д9-12/99111

Гаврилова, Н. Н.

            Микроскопические методы определения размеров частиц дисперсных материалов [Текст] : учеб. пособие / Н. Н. Гаврилова, В. В. Назаров, О. В. Яровая. - М. : РХТУ им. Д. И. Менделеева, 2012. - 51 с. : ил. - Библиогр.: с. 51. - 100 экз. - ISBN 978-5-7237-1055-9

 

126.Ж2-12/54285

Козлов, М. Н.

            Микробиологический контроль активного ила биореакторов очистки сточных вод от биогенных элементов [Текст] / М. Н. Козлов, А. Г. Дорофеев, В. Г. Асеева. - М. : Наука, 2012. - 82 с. + 10 л. ил. - Библиогр.: с. 78-80. - 1000 экз. - ISBN 978-5-02-038455-2

 

127.Д9-10/69023

Ефименко, Л. П.

            Исследование материалов и покрытий методам атомно-силовой микроскопии [Текст] / Л. П. Ефименко, В. А. Жабрев, К. Э. Пугачев. - М. : Компания Спутник+, 2010 (Москва). - 51 с. : ил. - 50 экз. - ISBN 978-5-9973-0707-3 : Б. ц. - В надзаг.: Центр коллектив. пользования по исслед. наночастиц, наноструктур и нанокомпозитов, Ин-т химии силикатов РАН, Инновац.-технол. центр "Новые материалы и хим. технологии"

 

128.Ж2-08/43843

Рид, С. Д.Б.

            Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Текст] / С. Д.Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова и др. - М. : Техносфера, 2008 (Вологда). - 229 с. : ил. - (Мир наук о Земле). - Библиогр.: с. 205-215. Предм. указ.: с. 216-219. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-177-2

 

129.Д9-07/36627

Пискунова, Н. Н.

            Исследование процессов роста и растворения кристаллов с помощью атомно-силовой микроскопии [Текст] / Н. Н. Пискунова. - Екатеринбург ; Сыктывкар : УрО РАН : Ин-т геологии Коми НЦ УрО РАН, 2007. - 133 с. : ил. - Библиогр.: с. 121-132. - 300 экз. - ISBN 5-7691-1839-6 - В надзаг.: Ин-т геологии, Коми науч. центр, УрО РАН

 

130.Ж2-07/41411

            Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) [Текст] : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года / сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев ; Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе. - Великий Новгород : НовГУ им. Ярослава Мудрого, 2007 (Великий Новгород). - 172 с. : ил. - Библиогр. в конце докл. - 130 экз. - ISBN 978-5-89896-340-8 : Б. ц. - В надзаг.: Физико-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроелектроники и особочистых материалов РАН, Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова и др.

 

131.М/62385/6(13)

620.2/М 630

Мир материалов и технологий [Текст] / Н. Н. Герасименко, Ю. Н. Пархоменко. - М. : Техносфера, 20 -     .

            № 6(13) : Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт; пер.с англ. С.Л. Баженова. - 2007. - 371 с. : ил. - Библиогр.: с. 368-371. - 3000 экз. - ISBN 978-5-94836-121-5 ()

 

132.Д9-06/27641

Вайтузин, О. П.

            Изучение микроструктуры металлов методом компьютерной оптической микроскопии [Текст] : учеб. пособие / О. П. Вайтузин, А. А. Кузовников. - Красноярск : Сиб. гос. аэрокосм. ун-т, 2006. - 98 с. - Библиогр.: с. 93. - 100 экз. - ISBN 5-86433-275-5 : Б. ц. - В надзаг.: Сиб. гос. аэрокосмический ун-т им. М. Ф. Решетнева

 

133.Ж2-06/38330

            Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) [Текст] : программа и материалы 3-го междунар. науч. семинара / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). - Великий Новгород : ИПЦ Новгор. гос. ун-та им. Ярослава Мудрого, 2006 (Великий Новгород). - 306 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 130 экз. - ISBN 5-89896-300-6 : Б. ц. - В надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН им. М.В.Ломоносова

 

134.Д9-06/20618

Бублик, В. Т.

            Методы исследования материалов и структур электроники.Рентгеновская дифракционная микроскопия [Текст] : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. - М. : Учеба, 2006 (М.). - 92 с. : ил. - Библиогр.: с. 92. - 200 экз. - Б. ц. - В надзаг.: Моск. гос. ин-т стали и сплавов, Каф. материаловедения полупроводников

 

135.Д9-05/26306

Александров, С. Е.

            Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов. Сканирующая зондовая микроскопия [Текст] : учеб. пособие / С. Е. Александров, А. Б. Спешилова. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2005 (СПб.). - 83 с. : ил. - Библиогр.: с. 78-82 (58 назв.). - 100 экз. - Б. ц. - В надзаг.:С.-Петерб. гос. политехн. ун-т

 

136.Ж2-05/38251

Сизых, А. И.

            Оптический определитель важнейших минералов [Текст] : учеб. пособие / А. И. Сизых, В. А. Буланов. - Иркутск : ИГУ, 2005 (Иркутск). - 281 с. : ил. - Библиогр.: с. 273. Алф. указ.: с.274-278. - 150 экз. - ISBN 5-9624-0063-1 : Б. ц. - В надзаг.:Иркут. гос. ун-т

 

137.Ж2-04/34693

            Биоморфные структуры в бокситах (по результатам электронно-микроскопического изучения) [Текст] / Э.Л. Школьник, Е.А. Жегалло, Б.А. Богатырев [и др.]; Науч. ред. В.Т. Фролов. - М. : Эслан, 2004. - 114 с. : ил. + 70 с. ил. - Библиогр.: с. 108-112 (148 назв.). - 320 экз. - ISBN 5-94101-101-6

 

138.Ж2-04/33281

            Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) [Текст] : программа и тезисы докладов 2 науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / Новгородский гос. ун-т им. Я. Мудрого. - Великий Новгород : ИПЦ НовГУ им. Ярослава Мудрого, 2004. - 144 с. - 100 экз. - Б. ц. - В надзаг.: Новгородский гос.ун-т им.Ярослава Мудрого.Библиогр. в конце ст.

 

139.Д8-03/95001

Иевлев, В. М.

            Просвечивающая электронная микроскопия неорганических материалов [Текст] : учеб. пособие / В.М.Иевлев,С.Б.Кущев. - Воронеж : Воронеж. гос. техн. ун-т, 2003. - 164 с. : ил. - 150 экз.- Библиогр.: с. 161 (7 назв.).

 

140.Ж2-02/27516

Горелик, С. С.

            Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 4.изд., перераб. и доп. - М. : МИСИС, 2002. - 358 с. : ил. - 2000 экз. - ISBN 5-87623-096-0 : Б. ц. - Библиогр.: с.357-358 (38 назв.)

 

141.Н/13643/588

            Акустическая спектроскопия микроскопического разрушения образца гранита Westerly [Текст] / А.В.Лебедев,В.В.Бредихин,И.А.Соустова и др. - Н. Новгород, 2002. - 28 с. : ил. - (Препринт / Институт прикладной физики (Нижний Новгород) ; 588)). - 80 экз. - беспл.

 

142.Д8-01/82680

543.4/Г 708

Горшков, И. И.

            Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ [Текст] : учеб.пособие / И.И.Горшков. - СПб. : Изд-во СПбГТУ, 2001. - 54 с. : ил. - 100 экз. - Б. ц. - В надзаг.: С.-Петерб. гос. техн. ун-т. Библиогр.: с. 53

 

143.Д8-01/65863

Рыков, С. А.

            Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб.пособие для студентов вузов / С.А.Рыков;Под общ.ред.В.И.Ильина, А.Я.Шика. - СПб. : Наука, 2001. - 52 с. : ил. - (Новые разделы физики полупроводников). - 1000 экз. - ISBN 5-02-024956-4 : Б. ц. - Библиогр.:с.51 (14 назв.)

 

144.Д8-00/59668

Кочетков, О. С.

            Микроскопическое описание осадочных пород [Текст] : учеб.пособие / О.С.Кочетков,Н.П.Бородина. - Ухта : [б. и.], 2000. - 99 с. : ил. - 120 экз. - ISBN 5-88179-044-8 - В надзаг.: Ухтин. гос. техн. ун-т

 

145.Д8-99/57326

Конников, С. Г.

            Количественная растровая электронная микроскопия полупроводников [Текст] : учеб.пособие / С.Г.Конников. - Спб. : Изд-во СПбГТУ, 1999. - 57 с. : ил. - 100 экз. - Б. ц. - В надзаг.:С.-Петербург. гос. техн. ун-т. Библиогр.: с.54-55

 

146.Н/11110/6-99

Елесин, В. Ф.

            Комплексные исследования образования и поведения точечных дефектов и их кластеров в графите: атомно-силовая и сканирующая туннельная микроскопия, теоретический анализ, компьютерное моделирование. Ч.1 [Текст] / В.Ф.Елесин,А.Л.Суворов. - М., 1999. - 16 с. : ил. - (Препринт / Институт теоретической и экспериментальной физики(Москва) ; 6-99). - 113 экз.

 

147.Н/16141/1

            Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров [Текст] / Под ред.И.В.Яминского. - М. : [б. и.], 1997. - 87 с. : ил. - (Сканирующая зондовая микроскопия. Серия / Рос.фонд фундамент.исслед. ; вып.1). - 1000 экз. - ISBN 5-89176-031-2 : Б. ц. - Парал.загл.англ.В надзаг.также:МГУ им.М.В.Ломоносова,Центр перспектив.технологий.Библиогр.в конце ст

 

148.М/39018/002-96

            Применение атомно-силовой микроскопии для исследования микроструктуры твердых сплавов на основе карбида, вольфрама [Текст] / К.В.Гоголинский,В.И.Кудрявцева,С.В.Новиков,В.НРешетов. - М., 1996. - 19 c. : ил. - (Препринт / Московский инж.-физ.ин-т ; 002-96). - 100 экз..

 

149.Д8-93/10810

            Применение комплекса МСФУЛ-312-ЭВМ для диагностики минералов [Текст] / Всерос.НИИ минер.сырья им.Н.М.Федоровского (ВИМС),Науч.совет по методам минералог.исслед. - М. : [б. и.], 1993. - 53   c. : илл. - (Оптические методы.Метод.рекомендации). - Библиогр.:с.21-22(7 назв.).Опис.по обл.Без тит.л

 

150.Д7-91/93528

Балакирев, В. Г.

            Электронно-микроскопическая фрактография кварца [Текст] / В.Г.Балакирев,Е.П.Мельников. - М. : Недра, 1991. - 120 с. : ил. - 3000 экз. - ISBN 5-247-02779-5 - В надзаг.:ВНИИ синтеза минер.сырья.Библиогр.:с.54(15 назв.)

 

151.Д7-91/94389

            Электронная микроскопия и прочность материалов [Текст] : сб. науч. тр. / АН УССР.Ин-т проблем материаловедения им.И.Н.Францевича,Науч.совет АН УССР по пробл."Физика твердого тела" ; Редкол.:С.А.Фирстов и др. - Киев : [б. и.], 1991. - 134 с. : ил. - 295 экз. - ISBN 5-7702-0255-6 : 00.90 р. - Библиогр.в конце ст

 

152.М/15125/1(1593)

Обзоры по электронной технике [Текст] : разговорник / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 -     .

            Вып. 1(1593) : Голографическая микроскопия : по данным отеч.и зарубеж.печати 1948-1989 гг. / Д.А.Усанов,В.Д.Тупикин,А.Ю.Вагарин и др. - 1991. - 75 с. : ил. - 3.05 р. - Библиогр.:с.64-75(111 назв.).Сер.8.Упр.качеством,стандартизация,метрология испытаний.

 

153.М/49316/1/2

Строение и свойства металлических и шлаковых расплавов [Текст] : науч.сообщ.YII Всесоюз.конф.:В 3 т. - Челябинск : [б. и.], 19 -     . - В надзаг.:АН СССР,Ин-т металлургии Урал.отд-ния АН СССР,Челяб.политехн.ин-т им.Ленин.комсомола.

            Т. 1 : Микроскопические и феноменологические теории неупорядоченных систем, Ч. 2. - 1990. - С. 182-350,VI 182-350,VI : ил. - Библиогр. в конце ст.

 

154.М/49316/1/1

Строение и свойства металлических и шлаковых расплавов [Текст] : науч.сообщ.YII Всесоюз.конф.:В 3 т. - Челябинск : [б. и.], 19 -     . - В надзаг.:АН СССР,Ин-т металлургии Урал.отд-ния АН СССР,Челяб.политехн.ин-т им.Ленин.комсомола.

            Т. 1 : Микроскопические и феноменологические теории неупорядоченных систем, Ч. 1. - 1990. - 181,IV с. с. : ил. - 295 экз. - 1.88 р. - Библиогр. в конце ст.

 

155.Д7-89/66874

            Электронная микроскопия и прочность материалов [Текст] : сб. науч. тр. / АН УССР. Ин-т пробл. материаловедения им.И.Н.Францевича ; Редкол.: С.А. Фирстов (отв. ред.) и др. - Киев : [б. и.], 1989. - 190 с. : ил. - 295 экз. - 0.65 р. - Библиогр. в конце ст.

 

156.Д7-89/70340

Ткачевская, Г. Д.

            Применение микрорентгеноспектрального анализа и растровой микроскопии в металловедении [Текст] : учеб. пособие / Г.Д.Ткачевская,Е.А.Шур. - Л. : [б. и.], 1989. - 50 c. : ил. - 300 экз. - 0.10 р. - В надзаг.:Ленингр. политехн. ин-т им. М. И. Калинина. Библиогр.: с. 49 (9 назв.)

 

157.Д2/52291

            Кэмерон, Ю.Н.

Рудная микроскопия. Совр. Методы исследования рудных минералов под микроскопом. Пер. с англ. Н.Н. Мозговой, И.Н. Томпсона. Под ред. И с предисл. Ю.С. Бородаева. М., «Мир»Ю 1966. -308 с., сил.

 

158.Д2/36335

            Яржемский, Я.Я.

Микроскопическое изучение галогенных пород. Новосибирск, «Наука», Сиб. Отд-ние, 1966, -64 с. с черт.

 

159.Ж1/25151

            Электронная микроскопия тонких кристаллов. Пер. с англ. Под ред. И с предисл. Л.М. утевского. М.: «Мир», 1968.-562 с. с ил.эмерон, Ю.Н.

 

160.Ж2/3561

            Электронная микроскопия в минералогии / под общ. Ред. Г.-Р. Венка; Пер с англ. Демьянец Л.Н

Рудная микроскопия. Совр. Методы исследования рудных минералов под микроскопом. Пер. с англ. Н.Н. Мозговой, И.Н. Томпсона. Под ред. И с предисл. Ю.С. Бородаева. М., «Мир»Ю 1966. -308 с., сил.

 

161.М/52362/1

Методы эмиссионного локального и микроспектрального анализа [Текст] : сб. докл. семинара / Под ред. В.П.Борзова. - Л. : [б. и.], 19 -     . - В надзаг.: Ленингр. обл. отд-ние О-ва "Знание" РСФСР, Ленингр. дом науч.-техн. пропаганды.

            Ч. 1. - 1964. - 77 с. : ил. - 250 экз. - Б. ц. - Библиогр. в конце докл

 

162.Д1/34247

Конструкции точных приборов. 50 примеров усовершенствования элементов конструкций приборов и машин, разработ. Науч.-технич. Коллективом Нар. Предприятия К. Цейсс, Иена. Пер. с нем. Н.К. Деревенко. М., Машгиз, 1960, -119 с. с ил.

 

163.G2/15571

            Applied polymer light microscopy [Text] / ed. D. A. Hemsley. - London ; New York : Elsevier, 1989. - XII,282 p. p. : ill. - ISBN 1-85166-335-5 : 46.19 р. - Библиогр. в конце ст.Указ.:с.273-282

 

 

164.У3279

   Нано-и микросистемная техника [Текст] : ежемес. междисциплинарный теоретический и прикладной научо-технический журн.: Журн. вып. при научно-метод. рук. Отд-ния нанотехнологий и информ. технологий Российской АН/ Новые технологии, Изд-во. - М. : "Новые технологии", 2005 -     (М.). - До 2016 г. в подзаг.: Журн. вып. при научно-метод. рук. Отд-ния информ. технологий и вычислительных систем Российской АН. - Журн. вкл. в Перечень ВАК РФ. - Журн. вкл. в РИНЦ. - Выходит ежемесячно. - ISSN 1813-8586

 

165.У3663

   Наноиндустрия [Текст] = Nanoindustry : науч.-технич. журн./ "РИЦ "Техносфера", ЗАО. - М. : Техносфера, 2007 -     (М.). - Журн. вкл. в РИНЦ. - Журн. вып. при содействии М-ва промышленности и торговли РФ. - До 2013 г. период.: 6 раз в год. - Выходит 8 раз в год. - ISSN 1993-8578

 

166.У3994

   Нанотехнологии: разработка, применение [Текст] = Nanotechnology: development and applications - XXI Century : науч.-технич. журн./ Изд-во "Радиотехника", ЗАО. - М. : Сайнс-Пресс, 2009 -     (М.). - До 2012г. в надзаг.: Департамент градостроительной политики, развития и реконструкции г. Москвы. - Журн. вкл. в Перечень ВАК РФ. - До 2013 г. период.: дважды в год. -Загл. обл.: Нанотехнологии: разработка, применение XXI век. - Выходит ежеквартально. - ISSN 2225-0980

 

167.W12870

   Microscopy [Текст]/ Japanese society of microscopy. - Tokyo : Japanese Soc. of Microscopy, 2004 -     . - Выходит три раза в год. - ISSN 1349-0958

 

168.W12595

   EPJ [Текст]. Applied Physics. - Les Ulis : EDP Sciences, 1998 -     . - с 2001 г. № 1 см. тит. лист: " The European Physical Journal. Applied Physics". - Выходит ежемесячно. - ISSN 1286-0042

 

169.V615

   Mikrochimica Acta [Текст] = Microchimica Acta. - Berlin : Springer Science+Business Media, 1937 -     (Springer). - ISSN 0026-3672

 

170.W10957

   Spectra 2000 [Text]. - ISSN 1255-2909

 

171.V3011

   Journal <of >Electron Microscopy [Text]. - Выходит раз в два месяца. - ISSN 0022-0744

 

172.V2143

   Journal <of >Physics [Text]. Ser.D, Applied Physics. - [S. l.] : IOP publ. - Выходит ежемесячно. - ISSN 0022-3727

 

173.W11623

   Optics & Photonics News [Text]. - [S. l.] : Optical Society of America. - Выходит ежемесячно. - ISSN 1047-6938

 

174.W5538

   Optical Engineering [Text]. - Выходит ежемесячно. - ISSN 0091-3286

 

175.Р1984/2010/2

   Сысоев, Е.В. Интерференцированный микроскоп-профилометр. // Автометрия [Текст] = Optoelectronics, instrumentation and data processing/ Российская академия наук. Сибирское отделение (Новосибирск), Институт автоматики и электрометрии (Новосибирск). - Новосибирск : Изд-во СО РАН, --2010, №2, стр. 119-128.

 

176.У1968/2012/8/11

Воронежский Гос. технический ун-т.

   Митрохин, В. И. Установка для фотоакустической микроскопии высокоомных пьезополупроводников. // Вестник Воронежского Государственного Технического Университета [Текст] : науч.-техн.журн. "Материаловедение"/ Воронежский Гос.технический университет. - Воронеж : [б. и.], 19 -     . - Выходит дважды в год. – 2012, Т.8, №11, стр. 119-123 -- ISSN 1729-6501

 

177.Р2200/2015/1

   Мирошников, Б.Н. Вакуумные фоторезист оры на основе PBS: характеристики и морфология.// Электронная техника [Текст] : науч.-техн. журн. Сер.3, Микроэлектроника/ Научно-исследовательский ин-т молекулярной электроники. - М. : Техносфера, 1965 -     . - Перевод заглавия: Electronic Engineering. Scientific-Technical Collection. Ser.3. Microelectronics. - До 2016 г. в подзаг.: Науч.-техн. сб. - Выходит ежеквартально. – 2015, №1, стр.33-40 - - ISSN 2410-9932

 

178.У2403/2011/10

   Никитаев, В.Г. Стратегия построения высокотехнологичных комплексов компьютерной микроскопии: опыт разработки и внедрения в атомную промышленность и медицину. // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. [Текст] = Instrumets and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics : ежемес. науч.- техн. и произв. журн./ "Научтехлитиздат", о-во с огранич. ответственностью. - М. : Научтехлитиздат, 2000 -     . - Выходит ежемесячно.—2011, №10, стр. 1-4 -- ISSN 2073-0004

 

179.У2403/2012/6

Бердникович, Е.Ю. Информационно-измерительная система компьютерной микроскопии для цитологической диагностики. // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. [Текст] = Instrumets and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics : ежемес. науч.- техн. и произв. журн./ "Научтехлитиздат", о-во с огранич. ответственностью. - М. : Научтехлитиздат, 2000 -     . - Выходит ежемесячно.—2012, №6, стр. 56-59 -- ISSN 2073-0004

 

180.У2403/2016/8

   Турухано, Б.Г. Модернизация трехкоординатного универсального измерительного микроскопа. // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. [Текст] = Instrumets and Systems: Monitoring, Control, and Diagnostics : ежемес. науч.- техн. и произв. журн./ "Научтехлитиздат", о-во с огранич. ответственностью. - М. : Научтехлитиздат, 2000 -     . - Выходит ежемесячно.—2016, №8, стр. 21-26 -- ISSN 2073-0004

 

181.У2399/2014/6

   Никиян, А.Н. Успехи и перспективы развития атомно-силовой микроскопии в микробиологии. // Вестник Оренбургского государственного университета [Текст] : журн./ Оренбургский гос. ун-т. - Оренбург : ГОУ ОГУ, 1999 -     (Оренбург). - Журн. вкл. в Перечень ВАК РФ. - Выходит ежемесячно.—2014, №6, стр. 112-119 - - ISSN 1814-6457

 

182.У4270/2013/2

   Наука в картинках. // Наука из первых рук [Текст] : период. науч.-попул. журн./ Российская Академия Наук. Сибирское отделение. - Новосибирск : "ИНФОЛИО", 2004 -     (Новосибирск). - Выходит раз в два месяца. -- 2013, №2, стр. 124-133 -- ISSN 1810-3960

 

183.У4270/2014/3-4

   Корнеев, Д.В. Вирус под микроскопом: от визуализации – к манипуляции. // Наука из первых рук [Текст] : период. науч.-попул. журн./ Российская Академия Наук. Сибирское отделение. - Новосибирск : "ИНФОЛИО", 2004 -     (Новосибирск). - Выходит раз в два месяца. – 2014, №3/4, стр. 182-187 -- ISSN 1810-3960

 

184.У4270/2014/6

   Федина, Л.И. Прогулка по атомным ступеням или как перейти от фундаментальных исследований на поверхности к измерениям в мире нано. // Наука из первых рук [Текст] : период. науч.-попул. журн./ Российская Академия Наук. Сибирское отделение. - Новосибирск : "ИНФОЛИО", 2004 -     (Новосибирск). - Выходит раз в два месяца.– 2014, №6, стр. 48-63 -- ISSN 1810-3960

 

185.У4270/2008/4

   Кисилева, Е.В. Волшебные картины микрокосмоса. // Наука из первых рук [Текст] : период. науч.-попул. журн./ Российская Академия Наук. Сибирское отделение. - Новосибирск : "ИНФОЛИО", 2004 -     (Новосибирск). - Выходит раз в два месяца.– 2008, №4, стр. 76-89 -- ISSN 1810-3960

 

186.У4270/2009/3

   Аржанников, А.В. Раздвигая горизонты наномира. // Наука из первых рук [Текст] : период. науч.-попул. журн./ Российская Академия Наук. Сибирское отделение. - Новосибирск : "ИНФОЛИО", 2004 -     (Новосибирск). - Выходит раз в два месяца.– 2009, №3, стр. 62-69 -- ISSN 1810-3960

 

187.У1389/2013/3

Тахчиди, Х.П. Клятва Гипократа не устареет никогда. // В мире науки [Текст] = Scientific American : ежемес. науч.-информ. журн. Русскояз. версия Scientific American/ "Международное партнерство распространения научных знаний", некоммерч. партнерство. - М. : "Международное партнерство распространения научных знаний", некоммерч. партнерство, 1983 -     (М.). - в 1995-2002 гг. журн. не издавался. - До 2014 г. изд-во: Российский новый ун-т. - Выходит ежемесячно. – 2013, №3, стр. 56-61 - - ISSN 0208-0621

 

188.У1389/2011/6

   Чумаков, В. Из жизни атомов. // В мире науки [Текст] = Scientific American : ежемес. науч.-информ. журн. Русскояз. версия Scientific American/ "Международное партнерство распространения научных знаний", некоммерч. партнерство. - М. : "Международное партнерство распространения научных знаний", некоммерч. партнерство, 1983 -     (М.). - в 1995-2002 гг. журн. не издавался. - До 2014 г. изд-во: Российский новый ун-т. - Выходит ежемесячно. – 2011, №6, стр. 42-47 - - ISSN 0208-0621

 

189.У2373/2009/4

   Гольдштейн, Р.В. О некоторых особенностях механического поведения кантилеверов атомно-силовых микроскопов. // Инженерная физика [Текст] : науч.-техн.журн./ "Научтехлитиздат", изд-во. - М. : Научтехлитиздат, 1999 -     . - До 2016 г. в надзаг.: МИФИ. - Выходит ежеквартально. --- 2009, №4, стр. 19-23 -- ISSN 2072-9995

 

190.У2373/2008/1

   Маскаева, Л.Н. Исследование морфологии поверхности пленок PbS-ZnS методом атомно-силовой микроскопии. // Инженерная физика [Текст] : науч.-техн.журн./ "Научтехлитиздат", изд-во. - М. : Научтехлитиздат, 1999 -     . - До 2016 г. в надзаг.: МИФИ. - Выходит ежеквартально. --- 2008, №1, стр. 51-53 -- ISSN 2072-9995

 

191.У3236/2013/1

   Ясников, И.С. Сканирующая электронная микроскопия как метод изучения микроскопических объектов электролитического происхождения. // Фундаментальные исследования [Текст] : науч. журн./ Акад. естествознания. - М. : Акад. естествознания, 2003 -     (М.). - До 2012 г. в подзаг.: Научно-теоретический журн. - До 2006 г. период.: 6 раз в год. - Журн. вкл. в Перечень ВАК РФ. - Выходит ежемесячно.—2013, №1, стр. 758-764 - - ISSN 1812-7339

 

192.У3236/2012/11

Смирнов, В.А. Формирование наноразмерных структур меди методом электрохимическойсканирующей туннельной микроскопии. // Фундаментальные исследования [Текст] : науч. журн./ Акад. естествознания. - М. : Акад. естествознания, 2003 -     (М.). - До 2012 г. в подзаг.: Научно-теоретический журн. - До 2006 г. период.: 6 раз в год. - Журн. вкл. в Перечень ВАК РФ. - Выходит ежемесячно.—2012, №11, стр. 656-659 - - ISSN 1812-7339

 

193.У3236/2015/2

Силантьева, Т.А. Подготовка образцов биологических тканей для исследования в сканирующем электронном микроскопе с использованием камфена. // Фундаментальные исследования [Текст] : науч. журн./ Акад. естествознания. - М. : Акад. естествознания, 2003 -     (М.). - До 2012 г. в подзаг.: Научно-теоретический журн. - До 2006 г. период.: 6 раз в год. - Журн. вкл. в Перечень ВАК РФ. - Выходит ежемесячно.—2015, №2, стр. 4919-4923 - - ISSN 1812-7339

 

194.У4055/2014/14

   Кононов, П.В. Исследование детали с фланцем из латуни методом атомно-силовой микроскопии. // Молодой ученый [Текст] : науч. журн./ Молодой ученый. - Чита : Изд-во "Молодой ученый", 2009 -     (Чита). - Журн. вкл. в РИНЦ. - До 2014 г. период.: ежемесячно. - До 2015 г. в подзаг.: ежемес. науч. журн. - Выходит дважды в месяц.—2014, №14, стр. 51-54 -- ISSN 2072-0297

 

195.У4055/2012/8

   Высоцкий, С.А. Атомно-силовая микроскопия слюд. // Молодой ученый [Текст] : науч. журн./ Молодой ученый. - Чита : Изд-во "Молодой ученый", 2009 -     (Чита). - Журн. вкл. в РИНЦ. - До 2014 г. период.: ежемесячно. - До 2015 г. в подзаг.: ежемес. науч. журн. - Выходит дважды в месяц.—2012, №8, стр. 15-22 -- ISSN 2072-0297

 

196.Халтурина, Т. И.

            Изучение структуры и химического состава осадка сточных вод, содержащих ионы тяжелых металлов, с использованием растровой (сканирующей) электронной микроскопии [Текст] / Т.И. Халтурина, Т.А. Курилина, О.В. Чурбакова // Строительство (Известия вузов). - 2011. - № 6. - С. 65-70. - Библиогр.: 4 назв.

(Шифр в БД Р628/2011/6)

 

197.Исследование поверхности кремнеземных пленок, легированных Fe и Co [Текст] / С. С. Михайлова [и др.] // Физика и химия стекла = 0132-6651. - 2009. - Т. 35, № 5. - С. 634-639. - Библиогр.: 15 назв.

(Шифр в БД Р2699/2009/35/5)

 

198.Грачева, И. Е.

            Анализ особенностей строения фрактальных нанокомпозитов на основе диоксида олова методами атомно-силовой микроскопии и рентгеновского фазового анализа [Текст] / И. Е. Грачева, А. И. Максимов, В. А. Мошников // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования = 0207-3528. - 2009. - № 10. - С. 16-23. - Библиогр.: 13 назв.

(Шифр в БД Р2871/2009/10)

 

199.Руднева, В. В.

            Исследование морфологии и размера частиц нанопорошков карбида кремния с применением методом электронной микроскопии [Текст] / В. В. Руднева, Г. В. Галевский, Е. К. Юркова // Порошковая металлургия и функциональные покрытия : известия вузов = 1997-308X. - 2009. - № 3. - С. 13-19. - Библиогр.: 8 назв.

(Шифр в БД У3719/2009/3)

 

200.Круглов, Е. В.

            Микроконтроллерная система управления сканирующим зондовым микроскопом "NanoScan" [Текст] / Е. В. Круглов // Нанотехника : инженер. журн. - 2008. - № 1. - С. 105-111. - Библиогр.: 8 назв.

(Шифр в БД У3237/2008/1)

 

201.Комиссаренко, Ф. Э.

            Манипулирование микро- и наночастицами с помощью сканирующего электронного микроскопа [Текст] / Ф. Э. Комиссаренко // Научные работы участников конкурса "Молодые ученые НИУ ИТМО" 2013 года. - СПб., 2014. - С. 73-76. - Библиогр.: 5 назв.

(Шифр в БД Ж2-14/56736)

 

202.Жуков, М. В.

            Специализированные зонды с Pt/C нановискерами для сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / М. В. Жуков // Научные работы участников конкурса "Молодые ученые НИУ ИТМО" 2013 года. - СПб., 2014. - С. 60-65. - Библиогр.: 13 назв.

(Шифр в БД Ж2-14/56736)

 

203.Стороженко, А. М.

            Анализ нанодисперсной фазы магнитных жидкостей методами микроскопии и рентгеноскопии [Текст] / А. М. Стороженко, И. А. Шабанова // "Физико-химические и прикладные проблемы магнитных дисперсных наносистем" : VI Всерос. науч. конф., 16-19 сент. 2013 г., Ставрополь : сб. науч. тр. - Ставрополь, 2013. - С. 221-226. - Библиогр.: 6 назв.

(Шифр в БД Д10-13/5563)

 

204.Ирха, В. А.

            Получение наноразмерных острий методом электронно-стимулированного осаждения для сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / В. А. Ирха, А. В. Голубева // Новые материалы и технологии их получения : материалы VI Междунар. науч.-практ. конф., 15 окт. 2012 г., Новочеркасск. - Новочеркасск, 2012. - С. 24-29. - Библиогр.: 5 назв.

(Шифр в БД Д9-12/95874)

 

205.Прокофьева, Е. В.

            Использование современного оборудования для изучения перспективного нанотехнологического направления [Текст] / Е. В. Прокофьева, О. Ю. Прокофьева, Н. В. Шаркевич // Технические науки - от теории к практике : материалы XVI междунар. заоч. науч.-практ. конф., 12 дек. 2012 г., Новосибирск. - Новосибирск, 2012. - С. 152-156. - Библиогр.: 6 назв.

(Шифр в БД Д9-12/95700)

 

206.Скурихин, А. В.

            Разработка ближнепольного оптического микроскопа в режиме на отражение [Текст] / А. В. Скурихин, В. А. Быков // Научная дискуссия : вопросы технических наук : материалы III междунар. заоч. науч.-практ. конф., 10 окт. 2012 г., Москва. - М., 2012. - С. 96-102. - Библиогр.: 3 назв.

(Шифр в БД Д9-12/96453)

 

207.Быков, В. А.

            Нанодиагностика и зондовая микроскопия в исследованиях новых материалов [Текст] / В. А. Быков // Нанотехнологии и наноматериалы : материалы III междунар. науч.-техн. конф. - М. : Изд-во МГОУ, 2012. - С. 11-16.

(Шифр в БД Ж2-12/53691)

 

208.Шалаева, Е. В.

            Наноразмерная структурно-фазовая неоднородность монацита по данным просвечивающей электронной микроскопии [Текст] / Е. В. Шалаева, Ю. В. Щапова, С. Л. Вотяков // Геодинамика, рудные месторождения и глубинное строение литосферы : XV чтения памяти А. Н. Заварицкого : материалы Всерос. конф. с междунар. участием. - Екатеринбург : ИГГ УрО РАН, 2012. - С. 275-277. - Библиогр.: 3 назв.

(Шифр в БД Ж2-12/53648)

 

209.Анализ углеродного наноматериала методами электронной микроскопии [Текст] / Р. О. Антонов [и др.] // Кооперация науки, образования, производства и бизнеса: новые идеи и перспективы безопасного развития в ближайшем будущем. - Тамбов : Изд-во ИП Чеснокова А.В., 2011. - С. 315-316.

(Шифр в БД Д9-11/85848)

 

210.Майский, А. И.

            Исследование металлических микро- и нанопроволок методами электронной и зондовой микроскопии [Текст] / А. И. Майский, А. А. Мильграм, С. А. Бедин // Функциональные наноматериалы для космической техники : тр. 2-й Всерос. шк.-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых, 17-19 мая 2011 г., Москва. - М., 2011. - С. 186-188. - Библиогр.: 3 назв.

(Шифр в БД Д9-11/82073)

 

211.Иванов, С. А.

            Низковольтная растровая электронная микроскопия для исследования наноматериалов [Текст] / С. А. Иванов // Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов. - Курск, 2011. - С. 891-902.

(Шифр в БД Д9-11/81110)

 

212.Скок, Ф. О.

            Формирование и электронно-микроскопические исследования наноструктурированных пористых пленок PbTe [Текст] / Ф. О. Скок // Функциональные наноматериалы и высокочистые вещества : сб. тр. 1-й Всерос. шк.-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по темат. направлению деятельности нац. нанотехнол. сети. - М., 2011. - С. 32-36. - Библиогр.: 5 назв.

(Шифр в БД Д9-11/78347)

 

213.Серцова, А. А.

            Зондовая микроскопия в исследовании наноматериалов [Текст] / А. А. Серцова, Е. В. Юртов // Функциональные наноматериалы и высокочистые вещества : сб. учеб.-метод. материалов 2-й Всерос. шк.-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых по темат. направлению деятельности нац. нанотехнол. сети. - М., 2011. - С. 31-44. - Библиогр.: 4 назв.

(Шифр в БД Д9-11/78348)

 

214.Малютина, А. А.

            Исследование электрофизических свойств сверхтонких пленок титаната-цирконата свинца методами сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / А. А. Малютина, В. М. Рощин, М. В. Силибин // Технико-экологические проблемы наукоемких производств : межвуз. сб. науч. тр. - М. : МИЭТ, 2010. - С. 155-165. - Библиогр.: 6 назв.

(Шифр в БД Д9-10/78052)

 

215.Использование атомно-силовой микроскопии в исследовании наноразмерных частиц [Текст] / Р. В. Вишняков [и др.] // Физика твердого тела : сб. материалов XII Рос. науч. студенч. конф., 12-14 мая 2010 г., Томск. - Томск, 2010. - С. 227-228.

(Шифр в БД Д9-10/74496)

 

216.Исследования углеродных нанотрубок методом растровой электронной микроскопии [Текст] / Д. В. Абрамов [и др.] // Патентно-лицензионная деятельность в государственном научно-образовательном секторе и организациях, образующих национальную нанотехнологическую сеть Владимирской области. - Владимир, 2009. - С. 45-50. - Библиогр.:3 назв.

(Шифр в БД Ж2-09/47739)

 

217.Интерференционные явления в плоских нано- и микрокристаллах бромистого серебра [Текст] / И. К. Азизов [и др.] // Микро- и нанотехнологии в электронике. - Нальчик : Каб.-Балк. гос. ун-т, 2009. - С. 101-102. - Библиогр.: 2 назв.

(Шифр в БД Д9-09/62985)

 

218.Бобринецкий, И. И.

            Неразрушающие методы контроля в исследованиях тканых материалов, модифицированных металлическими и углеродными наноразмерными пленками [Текст] / И. И. Бобринецкий, В. Н. Суханов // Методы и средства контроля технологий, материалов и изделий в микро- и наноэлектронике. - М., 2009. - С. 123-132. - Библиогр.: 5 назв.

(Шифр в БД Д9-09/65493)

 

219.Исследование методами спектроскопии ГКР, спектрофотометрии, атомно-силовой микроскопии фотохромизма спироциклических соединений на наноструктурированных пленках металла [Текст] / Г. Т. Василюк [и др.] // Международная конференция "Органическая нанофотоника" (ICON - RUSSIA 2009). Симпозиум "Молекулярная фотоника", посвящ. памяти акад. А. Н. Теренина". Симпозиум "Фундаментальные основы нанофотоники": сб. тр., 21-28 июня 2009 г. - СПб., 2009. - С. 5-13. - Библиогр.: 20 назв.

(Шифр в БД Д9-09/72094)

 

220.Анализ морфологии поверхности МЛЭ наноструктур Si/Ge с помощью атомно-силовой микроскопии [Текст] / Н. А. Торопов [и др.] // Физика твердого тела : сб. материалов XII Рос. науч. студенч. конф., 12-14 мая 2010 г., Томск. - Томск, 2010. - С. 208-210. - Библиогр.: 4 назв.

(Шифр в БД Д9-10/74496)

 

221.Бочкарева, Т. А.

            Полимерные нанокомпозиты на основе политетрафторэтилена и алюмага [Текст] / Т. А. Бочкарева // Лучшие доклады научной конференции студентов Якутского государственного университета им. М. К. Аммосова, посвященной 80-летию Н. С. Охлопкова (14-15 мая 2009 г.) . - Якутск, 2009. - С. 38-42. - Библиогр.: 4 назв.

(Шифр в БД Д9-09/74905)

 

222.Исследование структуры нанокомпозитов на основе полимерных матриц [Текст] / В. А. Демидов [и др.] // Функциональные наноматериалы для космической техники : тр. 1-й Всерос. шк.-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых, 1-3 дек. 2010 г., Москва. - М., 2010. - С. 105-109. - Библиогр.: 3 назв.

(Шифр в БД Д9-10/82071)

 

223.Рощин, Б. С.

            Сравнительные исследования наноструктурированных поверхностей рабочих элементов кольцевого лазерного гироскопа методом рентгеновского рассеяния и атомно-силовой микроскопии [Текст] / Б. С. Рощин, В. Е. Асадчиков // Функциональные наноматериалы для космической техники : тр. 1-й Всерос. шк.-семинара студентов, аспирантов и молодых ученых, 1-3 дек. 2010 г., Москва. - М., 2010. - С. 181-187. - Библиогр.: 12 назв.

(Шифр в БД Д9-10/82071)

 

224.Фомин, А. А.

            Наноструктурирование гидроксиапатитовых плазменных покрытий с предварительной термической обработкой металлической основы внутрикостных имплантатов [Текст] / А. А. Фомин, В. Н. Лясников, А. Б. Штейнгауэр // "Вакуумная наука и техника" : материалы XVIII науч.-техн. конф. с участием зарубежных специалистов, сент. 2011 г. - М. : МИЭМ, 2011. - С. 218-220. - Библиогр.: 4 назв.

(Шифр в БД Ж2-11/53799)

 

225.Морфологическая характеристика нанопленок Cu/Fe на Si(001) и их стабильность на воздухе в зависимости от толщины слоя Fe [Текст] / С. А. Китань [и др.] // Физика : фундаментальные и прикладные исследования, образование : материалы Всерос. молодеж. науч. конф., 29 окт. - 3 нояб. 2012 г., Благовещенск. - Благовещенск, 2012. - С. 80-83. - Библиогр.: 3 назв.

(Шифр в БД Ж2-12/53880)

 

226.Калашников, С. В.

            Разделение конгломератов нанодисперсного диоксида кремния ультразвуковыми колебаниями [Текст] / С. В. Калашников, А. В. Номоев, Н. А. Романов // Наноматериалы и технологии. Наноструктурированные системы в физике конденсированного состояния. Техника и технология наноматериалов : сб. тр. 4-й Всерос. науч. конф. с междунар. участием, 28 - 30 авг. 2012 г., Улан-Удэ. - Улан-Удэ, 2012. - С. 170-176. - Библиогр.: 4 назв.

(Шифр в БД Ж2-12/53995)

 

227.Шубин, Н. Е.

            От микроэлектроники к функциональной полимерной наноэлектронике [Текст] : учеб. пособие / Н. Е. Шубин. - М. : Терек, 2013. - 179 с. : ил. - Библиогр.: с. 171-176 (76 назв.). - 1000 экз. - ISBN 978-5-901585-73-3 : Б. ц. - В надзаг.: Сев.-Кавказ. гор.-металлург. ин-т (гос. технол. ун-т)

 

228.Исследование процесса нанесения тонких пленок на наноструктурированную поверхность [Текст] / К. Н. Беседина [и др.] // "Вакуумная наука и техника" : материалы XX юбил. науч.-техн. конф. с участием зарубежных специалистов, сент. 2013 г. - М. : МИЭМ, 2013. - С. 158-161. - Библиогр.: 2 назв.

(Шифр в БД Ж2-13/55868)

 

229.W12870/2007, Vol.42

International microscopy congress (16th ; 2006 ; Sapporo).

            <The >16th International microscopy congress, Sept. 3-8, 2006, Sapporo, Japan [Text] / Japanese soc. of microscopy. - Tokyo : JSM, 2007. - 106 p. : ill. - (Microscopy, ISSN 1349-0958 ; 2007, Vol. 42). - Текст яп. , англ. - Библиогр. в конце ст.

 

230.Tishko, T.

            Holographic microscopy of phase microscopic objects [Electronic resource] : theory and practice / T. Tishko, D. Tishko, V. Titar. - Electronic text data. - Singapore [etc.] : World sci., 2011. - on-line. - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-981-4289-55-9

 

231.Ж/1480

Циммерман, А.

            Микроскоп [Электронный ресурс] : рук. для науч. микроскопии / А. Циммерман; пер. с нем. А. Р. Ильиша. - Электрон. текстовые дан. - СПб. : издание К. Л. Риккера, 1896. - IV,338 с. : ил. - Сведения доступны также по Интернету: . - Алф. указ.: с. 329-334

 

232.Scanning transmission electron microscopy of nanomaterials [Electronic resource] : basics of imaging and analysis / ed. N. Tanaka. - Electronic text data. - Singapore [etc.] : World sci., 2014. - on-line. - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-78326-471-1

 

233.Fluorescent methods to study biological membranes [Electronic resource] / ed.: Y. Mely, G. Duportail. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (Springer series on fluorescence : methods and applications, ISSN 1617-1306 ; vol. 13). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-33128-2

 

234.Conservation science for the cultural heritage [Electronic resource] : applications of instrumental analysis / ed. E. A. Varella. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (Lecture notes in chemistry, ISSN 0342-4901 ; vol. 79). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-30985-4

 

235.Tang, D. -M.

            In situ transmission electron microscopy studies of carbon nanotube nucleation mechanism and carbon nanotube-clamped metal atomic chains [Electronic resource] / D.-M. Tang. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (Springer theses, ISSN 2190-5053). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-37259-9

 

236.537.533.35

Kirkland, E. J.

            Advanced computing in electron microscopy [Electronic resource] / E. J. Kirkland. - 2nd ed. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-1-4419-6533-2

 

237.537.533.35(03)

            Sample preparation handbook for transmission electron microscopy [Electronic resource] : methodology / J. Ayache [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY : Springer Science+Business Media LLC, 2010. - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-0-387-98182-6.

 

238.615.322

Rahfeld, B.

            Mikroskopischer Farbatlas pflanzlicher Drogen [Electronic resource] / B. Rahfeld. - Electronic text data. - Heidelberg : Spektrum akad. Verl., 2009. - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-3-827-42253-8

 

239.Imaging and manipulating molecular orbitals [Electronic resource] : proc. of the 3rd AtMol Intern. workshop, Berlin 24-25 Sept. 2012 / ed.: L. Grill, C. Joachim ; AtMol international workshop (3; 2012; Berlin). - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (Advances in atom and single molecule machines, ISSN 2193-9691). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-38809-5

 

240.Joy, D. C.

            Helium ion microscopy. Principles and applications [Electronic resource] / D. C. Joy. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (SpringerBriefs in materials, ISSN 2192-1091). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-8660-2

 

241.Acoustic scanning probe microscopy [Electronic resource] / ed. F. Marinello [et al.]. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-27494-7

 

242.Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 3 [Electronic resource] : vol. 3 / ed. B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-25414-7

 

243.Modeling nanoscale imaging in electron microscopy [Electronic resource] / ed. T. Vogt [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Nanostructure science and technology , ISSN 1571-5744). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-2191-7

 

244.Applications of electrochemistry and nanotechnology in biology and medicine II [Electronic resource] : vol. 2 / ed. N. Eliaz. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Modern aspects of electrochemistry , ISSN 0076-9924 ; vol. 53). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-2137-5

 

245.Mittal, V.

            Analytical imaging techniques for soft matter characterization [Electronic resource] / V. Mittal, N. B. Matsko. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Engineering materials, ISSN 1612-1317). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-30400-2

 

246.Atom probe microscopy [Electronic resource] / B. Gault [и др.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer series in materials science , ISSN 0933-033X ; vol. 160). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-3436-8

 

247.Kelvin probe force microscopy. Measuring and compensating electrostatic forces [Electronic resource] / ed.: S. Sadewasser, T. Glatzel. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer series in surface sciences , ISSN 0931-5195 ; vol. 48). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-22566-6

 

248.Electron microscopy XIV [Electronic resource] : proc. of the 14th intern. conf. on electron microscopy (EM2011), held in Wisla, Poland, from 26 to 30 Jun. 2011 / ed.: D. Stroz, K. Prusik ; International conference on electron microscopy (14; 2011; Wisla). - Electronic text data. - Durnten-Zurich : Trans tech publ., 2012. - on-line. - (Solid state phenomena, ISSN 1662-9779 ; vol. 186). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-03813-699-6

 

249.Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 2 [Electronic resource] / ed. B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2011. - on-line. - (Nanoscience and technology ; vol. 2). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана.

 

250.vr=N080698

   Nano Research [Electronic resource]. - Electronic text data. - Berlin : Springer Science+Business Media, 2008 -     (Ul'2008). - n. - Режим доступа : http://www.springer.com (publisher's website). - Загл. с титул. экрана. - Режим доступа : http://www.springerlink.com/content/1998-0124 (journal link (full text - НТО-3)). - Выходит раз в два месяца. - ISSN 1998-0124

 

251.Imaging and manipulating molecular orbitals [Electronic resource] : proc. of the 3rd AtMol Intern. workshop, Berlin 24-25 Sept. 2012 / ed.: L. Grill, C. Joachim ; AtMol international workshop (3; 2012; Berlin). - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (Advances in atom and single molecule machines, ISSN 2193-9691). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-38809-5

 

252.Joy, D. C.

            Helium ion microscopy. Principles and applications [Electronic resource] / D. C. Joy. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (SpringerBriefs in materials, ISSN 2192-1091). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-8660-2

 

253.Acoustic scanning probe microscopy [Electronic resource] / ed. F. Marinello [et al.]. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-27494-7

 

254.Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 3 [Electronic resource] : vol. 3 / ed. B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2013. - on-line. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-25414-7

 

255.Modeling nanoscale imaging in electron microscopy [Electronic resource] / ed. T. Vogt [et al.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Nanostructure science and technology , ISSN 1571-5744). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-2191-7

 

256.Applications of electrochemistry and nanotechnology in biology and medicine II [Electronic resource] : vol. 2 / ed. N. Eliaz. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Modern aspects of electrochemistry , ISSN 0076-9924 ; vol. 53). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-2137-5

 

257.Mittal, V.

            Analytical imaging techniques for soft matter characterization [Electronic resource] / V. Mittal, N. B. Matsko. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Engineering materials, ISSN 1612-1317). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-30400-2

 

258.Atom probe microscopy [Electronic resource] / B. Gault [и др.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer series in materials science , ISSN 0933-033X ; vol. 160). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-3436-8

 

259.Kumagai , T.

            Visualization of hydrogen-bond dynamics. Water-based model systems on a Cu(110) surface [Electronic resource] / T. Kumagai . - Electronic text data. - Tokyo [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer theses, ISSN 2190-5053 ; vol. 125). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-4-431-54156-1

 

260.Kelvin probe force microscopy. Measuring and compensating electrostatic forces [Electronic resource] / ed.: S. Sadewasser, T. Glatzel. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer series in surface sciences , ISSN 0931-5195 ; vol. 48). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-22566-6

 

261.Electron microscopy XIV [Electronic resource] : proc. of the 14th intern. conf. on electron microscopy (EM2011), held in Wisla, Poland, from 26 to 30 Jun. 2011 / ed.: D. Stroz, K. Prusik ; International conference on electron microscopy (14; 2011; Wisla). - Electronic text data. - Durnten-Zurich : Trans tech publ., 2012. - on-line. - (Solid state phenomena, ISSN 1662-9779 ; vol. 186). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-03813-699-6

 

262.Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 2 [Electronic resource] / ed. B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2011. - on-line. - (Nanoscience and technology ; vol. 2). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана.

 

263.Adaptive optics for industry and medicine [Electronic resource] : proceedings of the 4th international workshop, Munster, Germany, Oct. 19-24, 2003 / ed. U. Wittrock. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - on-line. - (Springer proceedings in physics, ISSN 0930-8989 ; 102). - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-3-540-28867-1

 

264.Liebl, H.

            Applied charged particle optics [Electronic resource] / H. Liebl. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - on-line. - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-3-540-71925-0

 

265.Optical nano- and microsystems for bioanalytics [Electronic resource] / ed.: W. Fritzsche, J. Popp. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2012. - on-line. - (Springer series on chemical sensors and biosensors : methods and applications, ISSN 1612-7617 ; vol. 10). - Сведения доступны также по Интернету: . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-642-25498-7

 

266.vr=N080698

   Nano Research [Electronic resource]. - Electronic text data. - Berlin : Springer Science+Business Media, 2008 -     (Ul'2008). - n. - Режим доступа : http://www.springer.com (publisher's website). - Загл. с титул. экрана. - Режим доступа : http://www.springerlink.com/content/1998-0124 (journal link (full text - НТО-3)). - Выходит раз в два месяца. - ISSN 1998-0124

 

267.vr=J605899

   Journal of Microscopy [Электронный ресурс] . - Electronic text data. - [Б. м.] : John Wiley & Sons, Inc, 1878 -     . - n. - Режим доступа : http://eu.wiley.com (publisher's website). - Загл. с титул. экрана. - Режим доступа : http://www3.interscience.wiley.com/journal/117960848/home (journal link (full text - НТО-3)). - Выходит ежемесячно. - ISSN 0022-2720

 

268.Shimizu, K.

            New horizons of applied scanning electron microscopy [Electronic resource] / K. Shimizu, T. Mitani. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, 2010. - on-line. - (Springer series in surface sciences, ISSN 0931-5195 ; 45). - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-3-642-03160-1

 

269.vr=M715091

   Microscopy Research and Technique [Электронный ресурс] . - Electronic text data. - [Б. м.] : John Wiley & Sons, Inc., 1984 -     . - n. - Режим доступа : http://eu.wiley.com (publisher's website). - Загл. с титул. экрана. - Режим доступа : http://onlinelibrary.wiley.com/journal/10.1002/(ISSN)1097-0029 (journal link (full text - НТО-3)). - Выходит ежемесячно. - ISSN 1059-910X

 

270.Khulbe, K. C.

            Synthetic polymeric membranes [Electronic resource] : characterization by atomic force microscopy / K. C. Khulbe, T. Matsuura, C. Y. Feng. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - on-line. - (Springer laboratory). - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-3-540-73994-4.

 

271.Noncontact atomic force microscopy [Electronic resource] : vol. 2 / ed. S. Morita [et al.]. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2009. - on-line. - (NanoScience and technology, ISSN 1434-4904). - Сведения доступны также по Интернету: . - ISBN 978-3-642-01495-6

 

Материалы из электронных ресурсов, предоставляемых на основе лицензионных соглашений. Доступ к полному тексту возможен только из читальных залов ГПНТБ России. С полным перечнем ресурсов можно ознакомиться на сайте библиотеки.

 

272.Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Application to Rough and Natural Surfaces

Professor Dr. Gerd Kaupp (2006)

 

273.Scanning Electron Microscopy and Secondary-Electron Imaging Microscopy

Encyclopedia of Nanotechnology (2012)

 

274.Microscopy Techniques

Jens Rietdorf in Advances in Biochemical Engineering (2005)

 

275.Advanced Computing in Electron Microscopy

Earl J. Kirkland (2010)

 

276.Electron Microscopy Methods and Protocols

M. A. Nasser Hajibagheri in Methods in Molecular Biology™ (1999)

 

277.Confocal Microscopy Methods and Protocols

Stephen W. Paddock in Methods in Molecular Biology™ (1999)

 

278.Biological Low-Voltage Scanning Electron Microscopy

Heide Schatten, James B. Pawley (2008)

 

279.Physical Principles of Electron Microscopy

An Introduction to TEM, SEM, and AEM

Ray F. Egerton (2005)

 

280.Handbook Of Biological Confocal Microscopy

James B. Pawley (2006)

 

281.EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany

Volume 2: Materials Science

Dr. Silvia Richter… (2008)

 

282.Super-Resolution Microscopy Techniques in the Neurosciences

Eugenio F. Fornasiero… in Neuromethods (2014)

 

283.Confocal Microscopy

Methods and Protocols

Stephen W. Paddock in Methods in Molecular Biology (2014)

 

284.Steding’s and Virágh’s Scanning Electron Microscopy Atlas of the Developing Human Heart

Roelof-Jan Oostra, Gerd Steding… (2007)

 

285.Surface Microscopy with Low Energy Electrons

Ernst Bauer (2014)

 

286.Scanning Probe Microscopy

Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Sergei Kalinin, Alexei Gruverman (2007)

 

287.Advanced Fluorescence Microscopy

Methods and Protocols

Peter J. Verveer in Methods in Molecular Biology (2015)

 

288.Helium Ion Microscopy

Principles and Applications

David C. Joy in SpringerBriefs in Materials (2013)

 

289.Atomic Force Microscopy

Biomedical Methods and Applications

Pier Carlo Braga, Davide Ricci in Methods in Molecular Biology™ (2004)

290.Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Prof. Dr. Brent Fultz… (2008)

291.Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology

Bharat Bhushan in NanoScience and Technology (2010)

292.Science of Microscopy

Peter W. Hawkes, John C. H. Spence (2007)

293.Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)

Prof. Yonghua Rong (2012)

294.Electron Microscopy

Methods and Protocols

John Kuo in Methods in Molecular Biology (2014)

295.Transmission Electron Microscopy

Physics of Image Formation

Helmut Kohl, Ludwig Reimer in Springer Series in Optical Sciences (2008)

296.Optical Imaging and Microscopy

Techniques and Advanced Systems

Peter Török, Fu-Jen Kao in Optical Sciences (2007)

297.Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials

Challa S.S.R. Kumar (2014)

298.Advanced Transmission Electron Microscopy

Applications to Nanomaterials

Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral… (2015)

299.Forensic Microscopy for Skeletal Tissues

Methods and Protocols

Lynne S. Bell in Methods in Molecular Biology (2012)

300.Bridging fluorescence microscopy and electron microscopy

Development of new fluorescent probes and fluorescence microscopes has led to new ways to study cell biology. With the emergence of specialized microscopy units at most universities and research centers, ... rese...

Ben N. G. Giepmans in Histochemistry and Cell Biology (2008)

301.Assessment of central corneal thickness and corneal endothelial morphology using ultrasound pachymetry, non-contact specular microscopy, and Confoscan 4 confocal microscopy

The aim was to compare the repeatability, reproducibility and inherent precision of ultrasound pachymetry (USP), noncontact specular microscopy (SP-2000P) and the Confoscan 4...

Haya Matuoq Al Farhan, Wafa’a Majed Al Otaibi… in BMC Ophthalmology (2013)

302.Crystallographic order and decomposition of [Mn^III₆Cr^III]3+ single-molecule magnets deposited in submonolayers and monolayers on HOPG studied by means of molecular resolved atomic force microscopy (AFM) and Kelvin probe force microscopy in UHV

Monolayers and submonolayers of [Mn III 6 Cr III ] 3+ ...single-molecule ma...

Aaron Gryzia, Timm Volkmann, Armin Brechling, Veronika Hoeke… in Nanoscale Research Letters (2014)

303.A picture tells a thousand words: transmission electron microscopy of the ciliary transition zone in C. elegans

R Bowie, K Kida, M Leroux, O Blacque in Cilia (2012)

304.Frosch′ surface microscopy score for the assessment of steroid-induced atrophy

Begoña García-García, Daniel González-Fernández… in Archives of Dermatological Research (2014)

305.Micro-stratigraphical investigation on corrosion layers in ancient Bronze artefacts by scanning electron microscopy energy dispersive spectrometry and optical microscopy

In this paper, results of investigation carried out on ancient bronzes discovered from Haft Tappeh archaeological site, southwestern Iran, are presented. The ancient bronze samples are dated to the Middle Elamite...

Omid Oudbashi, Seyed Mohammadamin Emami, Hossein Ahmadi, Parviz Davami in Heritage Science (2013)

306.Phase and fluorescence imaging by combination of digital holographic microscopy and fluorescence microscopy

Hybrid digital holographic microscopy that combines fluorescence microscopy and digital holographic microscopy into a single system for biological applications...egera densa presented the feasibility of simultane...

Xiangyu Quan, Kouichi Nitta, Osamu Matoba, Peng Xia, Yasuhiro Awatsuji in Optical Review (2015)

307.Structural examination of lithium niobate ferroelectric crystals by combining scanning electron microscopy and atomic force microscopy

The structure of lithium niobate single crystals is studied by a complex technique that combines scanning electron microscopy and atomic force microscopy. By implementing the piezoresponse force method on...

P. V. Efremova, B. B. Ped’ko, Yu. V. Kuznecova in Technical Physics (2016)

308.Telocytes and putative stem cells in the lungs: electron microscopy, electron tomography and laser scanning microscopy

This study describes a novel type of interstitial (stromal) cell — telocytes (TCs) — in the human and mouse respiratory tree (terminal and respiratory bronchioles, as well as alveolar ducts). TCs have recently be...

Laurentiu M. Popescu, Mihaela Gherghiceanu, Laura C. Suciu… in Cell and Tissue Research (2011)

309.Spontaneous Polarization in Bio-organic Materials Studied by Scanning Pyroelectric Microscopy (SPEM) and Second Harmonic Generation Microscopy (SHGM)

Bio-organic materials such as bones, teeth, and tendon generally show nonlinear optical (Masters and So in Handbook of Biomedical Nonlinear Optical Microscopy, 2008), pyro- and piezoelectric (Fukada and Yasuda in...

T. Putzeys, M. Wübbenhorst, M. A. van der Veen in International Journal of Thermophysics (2015)

310.Sander, O.; Dechant, C.; Sunderkötter, C.; Klein-Weigel, P.: Kapillarmikroskopie Nailfold Capillary MicroscopyAktuelle Rheumatologie; eFirst
311.Yamabe, Akane; Irisawa, Atsushi; Wada, Ikuo; Shibukawa, Goro; Fujisawa, Mariko; Sato, Ai; Igarashi, Ryo; Maki, Takumi; Hoshi, Koki: Application of a silver coating on plastic biliary stents to prevent biofilm formation: an experimental study using electron microscopy Endoscopy International Open; Issue 10, 2016
312.Chen, Quanlan; Liang, Zhitao; Brand, Eric; Chen, Hubiao; Zhao, Zhongzhen: Distributive and Quantitative Analysis of the Main Active Saponins in Panax notoginseng by UHPLC-QTOF/MS Combining with Fluorescence Microscopy and Laser Microdissection Planta Medica; Issue 03, 2016
313.Nikolic, Nicole; Espiritu, Baltazar; Edward, Deepak P.; Perlman, Jay:Optimizing Resident Education of Ophthalmic Pathology: Qualitative Assessment of Annotated Virtual Microscopy Web SiteJournal of Clinical & Academic Ophthalmology; Issue 01, 2016